Standard test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors by measurement of steady-state surface photovoltage.
用稳态表面光电压测量半导体中少数载流子扩散长度的标准方法。
The diffusion length of excitons in organic electronic materials is typically on the order of 10 nm.
激子在有机材料中的扩散距离通常是10 nm。
The authors improved the routine steady-state surface photovoltage method to measure minority carrier diffusion length in both sides polished silicon wafers.
The SSM serves two purposes: it provides estimates for the helium abundance and mixing length parameter by forcing the stellar model to have the correct luminosity and radius at the Sun's age, it provides a way to evaluate more complex models with additional physics, such as rotation, magnetic fields and diffusion or improvements to the treatment of convection, such as modelling turbulence, and convective overshooting.
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