Provided are an electronic device testing apparatus and an electronic device testing method, in which an electronic device can be precisely and easily tested.
La présente invention concerne un appareil et un procédé de test de dispositif électronique, dans lesquels un dispositif électronique peut être testé de manière précise et simple.
provided is an electronic device testing method wherein a stress applying step effective for removing an initial degradation failure product of an electronic device is introduced
l'invention concerne un procédé de test pour dispositif électronique. le procédé consiste à appliquer une contrainte efficace pour éliminer un élément défaillant subissant une dégradation initiale d'un dispositif électronique
LEAK CURRENT DETECTOR CIRCUIT, BODY BIAS CONTROL CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD
CIRCUIT DÉTECTEUR DE COURANT DE FUITE, CIRCUIT DE COMMANDE DE POLARISATION DE CORPS, DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR ET PROCÉDÉ DE TEST DE DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR
CONTRÔLEUR D'ÉCOULEMENT, PROCÉDÉ DE TEST DE DISPOSITIF DE MESURE D'ÉCOULEMENT, SYSTÈME DE TEST DE CONTRÔLEUR D'ÉCOULEMENT ET APPAREIL DE FABRICATION DE SEMICONDUCTEURS
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Synonyms and analogies of "device testing method" in English