A method as claimed in any one of the preceding claims characterized in that said encapsulative double metal cyanide complex catalyst is a substantially amorphous zinc hexacyanocobaltate complex catalyst exhibiting substantially no sharp peak in an x-ray diffraction pattern at a d-spacing of approximately 5.1.
Verfahren gemäß irgendeinem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der einkapselungsfähige Doppelmetallcyanidkomplex-Katalysator ein im wesentlichen amorpher Zinkhexacyanocobaltatkomplex-Katalysator ist, der in einem Röntgenbeugungsmuster bei einem d-Abstand von etwa 5,1 im wesentlichen keinen scharfen Peak aufweist.
Use of Claim 3 wherein olanzapine is Form II olanzapine polymorph having a typical x-ray diffraction pattern as follows, wherein d represents the interplanar spacing: Use of Claim 8 wherein the dosage of olanzapine is from about 5 mg to about 30 mg per day.
Verwendung nach Anspruch 1, worin das Olanzapin das Olanzapinpolymorph der Form II ist, welches ein typisches Röntgenbeugungsmuster wie folgt hat, worin d die Interplanarabstände bedeuten: Verwendung nach Anspruch 4, worin die Dosis an Olanzapin etwa 5 mg bis etwa 30 mg pro Tag beträgt.
A compound according to claim 1 having the polymorphic form B and having characteristic peaks in its x-ray diffraction pattern of d-spacing 11.38, 7.957, 6.913, 5.650, 5.466, 4.623, 4.267, 4.216, 4.094 and 3.919.
Verbindung nach Anspruch 1, die die Polymorphform B aufweist und in deren Röntgenbeugungsdiagramm charakteristische Peaks von d-Abständen 11,38, 7,957, 6,913, 5,650, 5,466, 4,623, 4,267, 4,216, 4,094 und 3,919 aufweist.
Micronized zolpidem hemitartrate Form A having particles up to about 200 microns in size as measured by laser diffraction and an x-ray diffraction pattern having a peak at about 8.6 ±0.2 degrees two-theta.
Mikronisiertes Zolpidem-Hemitartrat der Form A mit Teilchen von bis zu etwa 200 Mikrometern Größe, gemessen durch Laserdiffraktion, und einem Röntgenbeugungsdiagramm mit einem Peak bei etwa 8,6 ± 0,2 Grad Zwei-Theta.
A crystalline molecular sieve according to any preceding claim having an X-ray diffraction pattern as follows: wherein VS = 100, S = 40-60, M = 20-40, and W = 5-20.
Ein kristallines Molekularsieb gemäß irgendeinem vorhergehenden Anspruch mit einem Röntgenbeugungsbild wie folgt: wobei VS = 100, S = 40-60, M = 20-40 und W = 5-20.
In the figure below, the X-ray diffraction pattern of a Gd powder sample prepared by inert gas condensation method is analyzed.
Folgende Abbildung zeigt das Röntgenbeugungsbild einer Probe eines Gd-Pulvers, welches mittels Inertgas-Kondensationsmethode analysiert wurde.
A composition according to Claim 1 or 2 wherein the smectite-type clay exhibits a 1.4 nm x-ray diffraction pattern.
Zusammensetzung nach Anspruch 1 oder 2, worin der Ton vom Smectit-Typ ein Röntgenbeugungsdiagramm von 1,4 nm zeigt.
They predicted using mathematical computations that the X-ray diffraction pattern for a helix would be an X shape.
Sie sagten mit mathematischen Berechnungen voraus, dass das Röntgenbeugungsmuster für eine Helix eine X-Form wäre.
2 shows the X-ray diffraction pattern for two types of paper (magazine, white envelope).
Abbildung 2 zeigt das Röntgenbeugungsmuster zweier Papiertypen (Zeitschrift, weißer Umschlag).
The process according to claim 5 or 6, wherein the alloy composed of palladium and bismuth exhibits X-ray diffraction pattern below.
Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, wobei die aus Palladium und Wismut zusammengesetzte Legierung das nachstehende Röntgenbeugungsmuster aufweist.
2 shows the X-ray diffraction pattern and qualitative analysis results for a mineral sample, obtained in a measurement time of 1 minute.
Abbildung 2 zeigt das Röntgenbeugungsmuster und die qualitative Analyseergebnisse einer Mineralprobe, welche mit einer Messzeit von 1 Minute erhalten wurden.
A compound according to claim 1 having peaks at 2 = 7.7 and 11.8º in its X-ray diffraction pattern.
Verbindung nach Anspruch 1 mit Peaks bei 2 = 7,7 und 11,8º in ihrem Röntgenbeugungsdiagramm.
A layered oxide material according to claim 11, wherein said X-ray diffraction pattern comprises the following lines: A layered oxide material according to claim 11, which is a pillared layered oxide material.
Schichtoxidmaterial nach Anspruch 11, wobei das Röntgenbeugungsdiagramm die folgenden Linien umfaßt: Schichtoxidmaterial nach Anspruch 11, das ein gestütztes Schichtoxidmaterial ist.
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