X-ray diffractogram for mineralogical analysis (XRD)
Dyfraktogram rentgenowski do analizy mineralogicznej (XRD)
Other results
The measured diffractograms are typical for amorphous materials.
Zmierzone dyfraktogramy są typowe jak dla materiałów amorficznych.
The Rietveld method was used for simulation of diffractograms of two-component mixtures containing fayalite (CaxFe1-x)2SiO4 with different degrees of substitution for calcium ions, x = 0.0; 0.15; 0.30; 0.40; 0.50; 0.60.
Zastosowano metodę Rietvelda do symulacji dyfraktogramów mieszanin dwuskładnikowych zawierających fajalit (CaxFe1-x)2SiO4 o różnym stopniu podstawienia jonami wapnia, x = 0,0; 0,15; 0,30; 0,40; 0,50; 0,60.