Examples with "In-Circuit Debugging-Probe" and their translation in English
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Beide Kits beinhalten eine größenlimitierte Lizenz für die leistungsstarke Toolchain IAR Embedded Workbench und kann in Verbindung mit der In-Circuit Debugging-Probe I-jet von IAR Systems sowie anderen JTAG-Probes genutzt werden. Darüber hinaus sind Versionen mit IAR J-Link Lite USB-JTAG/SWD Debug-Probe erhältlich.
The kits include a size-limited license of the powerful toolchain IAR Embedded Workbench and can be used with IAR Systems' in-circuit debugging probe I-jet as well as other JTAG probes, and are also available in versions including an IAR J-Link Lite USB-JTAG/SWD debug probe.
Neu in der erst kürzlich veröffentlichten Version 6.60 ist die Unterstützung von IAR Systems' neuer Probe I-scope, die in Verbindung mit der In-Circuit Debugging-Probe I-jet eine zielgerichtete Messung von Spannung und Stromaufnahme ermöglicht.
Added by the recently released version 6.60 is support for IAR Systems' I-scope probe, which is used together with the in-circuit debugging probe I-jet and adds capabilities for current and voltage measurements.
Bei der Nutzung zusammen mit der In-Circuit Debugging-Probe I-jet...
Das Angebotsportfolio an In-Circuit-Debugging Probes wird bald durch weitere Produkte ausgebaut, mit dem Ziel den Arbeitsablauf in der Entwicklung einfacher, nahtloser und auch flexibler zu gestalten.
This premiere launch will be followed by others in a new product portfolio of in-circuit debugging probes, targeted for simplified, seamless and more flexible development workflows.
Entwickler, die Technologie nutzen, um ihre Anwendungen hinsichtlich Stromverbrauch zu testen und optimieren, erhalten mit der neuen leistungsstarken In-Circuit-Debugging Probe I-jet jetzt noch mehr Genauigkeit bei der Verbrauchsmessung.
For developers who make use of IAR Systems' innovative power debugging technology to test and tune their applications for power optimization, the launch of the new high-performing in-circuit debugging probe I-jet allows for even more refined power measurements.
Eine perfekte Ergänzung hierzu bildet auch die neue In-Circuit-Debugging Probe I-jet von IAR Systems, die vollständig in die IAR Embedded Workbench integriert ist und hochgenaue Strommessungen erlaubt.
IAR Systems also recently launched the in-circuit debugging probe I-jet that enables high-accuracy power measurements and is tightly integrated with IAR Embedded Workbench.
Leistungsfähige Add-ons und Integrationen, die ein vollständiges Portfolio an In-Circuit-Debugging-Probes sowie integrierte Werkzeuge für die statische Analyse und Laufzeit-Analyse enthalten, bieten zusätzliche Funktionen für die IAR Embedded Workbench.
Powerful add-ons and integrations, including a complete portfolio of in-circuit debugging probes as well as integrated tools for static analysis and runtime analysis, adds additional possibilities to IAR Embedded Workbench.
Diese Technologie nutzt den C-SPY Debugger, der in der IAR Embedded Workbench integriert ist, in Verbindung mit der In-Circuit-Debugging-Probe I-jet von IAR Systems.
This technology is available using the C-SPY Debugger included in IAR Embedded Workbench together with IAR Systems' in-circuit debugging probe I-jet.
Zu den neuesten Ergänzungen der Tools zählen auch die flexible Integration von externen Code-Analyse-Tools sowie die Unterstützung für die I-scope-Probe von IAR Systems, die in Verbindung mit der In-Circuit-Debugging-Probe I-jet verbessere Optionen für eine detaillierte Strom- und Spannungsmessungen bietet.
Recent enhancements to the tools include a flexible integration with external code analysis tools and added support for IAR Systems' I-scope probe that used together with the in-circuit debugging probe I-jet adds possibilities for detailed current and voltage measurements.
Für ein verbessertes Debugging bietet IAR Systems auch eine Reihe von vollständig integrierten In-Circuit Debugging-Probes, die separat erhältlich sind: Der I-jet dient als besonders schnelle Debugging-Plattform und erlaubt eine extrem genaue Messung der Stromaufnahme des Zielgeräts.
For enhanced debug capabilities, IAR Systems also offers a range of fully integrated in-circuit debugging probes sold separately. I-jet provides an exceptionally fast debugging platform and has the capability of measuring target power consumption with a high degree of accuracy.
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