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Halbleitertestsystem
Vertaling van "Halbleitertestsystem" in Engels
The semiconductor test system
Halbleitertestsystem nach Anspruch 13, bei dem der Baum ein binärer Baum ist.
The semiconductor test system of claim 13 in which said tree is a binary tree.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 1, bei dem die selbständigen Objekte in dem Bedienerfenster alle miteinander kommunizieren.
The semiconductor test system of claim 1 in which said self-contained objects in said operator window all communicate with each other.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 4, wobei die seriellen Datenwörter ferner ein Maskenbit enthalten, das zum Maskieren von nicht bekannten Daten verwendet wird.
The semiconductor test system of claim 4 in which said serial data words further contain a mask bit used to mask out unknown data.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 2, bei dem ein kommerziell verfügbares Programm die Namendaten in dem Baum in Übereinstimmung mit einem Satz von Entscheidungslogikregeln speichert und sucht.
The semiconductor test system of claim 2 in which a commercially available program stores and searches said named data in said tree according to a set of decision logic rules.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 12, bei dem ein besagter Mehrfachbehälter einen Anzeiger der Position der Namendaten in dem geordneten Sequenzvektor speichert.
The semiconductor test system of claim 12 in which a said multicontainer stores an indicator of the position of said named data in said ordered sequence vector.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 13, bei dem Behälter in der gleichen Weise wie die verschachtelten Ebenen der Namendaten verschachtelt sind.
The semiconductor test system of claim 13 in which said containers are nested in the same way as said nested levels of said named data.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 12, bei dem das Handlertestgerät-Steuerungsobjekt, das Prüfgerät-Steuerungsobjekt und das Bedienersteuerungsobjekt sowohl Code- als auch grafische Anwenderschnittstelleninformation umfassen.
The semiconductor test system of claim 12 in which said handler tester control object, said tester control object and said operator control object comprise both code and graphical user interface information.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 1 oder 2, bei dem das selbständige Prüfgerät-Steuerungsobjekt und die selbständigen Bedienersteuerungsobjekte in dem Bedienerfenster sind und miteinander kommunizieren.
The semiconductor test system of claim 1 or 2 in which said self-contained tester control object and said self-contained operator control objects are in said operator window and communicate with each other.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 16 mit einer Kommunikationsschnittstelle (2028), die die Kommunikationsnetzwerkschicht zwischen dem Handler und dem Handlertestgerät-Steuerungsobjekt definiert.
The semiconductor test system of claim 16 having a communications interface (2028) defining the communications network layer between said handler and said handler tester control object.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 8 mit einem Parallelvektorprozessor (504) mit einem Puffer zum Empfangen der Scantestvektoren von dem Speicher zur Verwendung während des Paralleltestmodus.
The semiconductor test system of claim 8 having a parallel vector processor (504) with a buffer for receiving said scan test vectors from said memory for use during said parallel test mode.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 3, wobei die seriellen Datenwörter ein Scaninbit, welches beim Einscannen verwendet wird, und ein erwartetes Bit, das beim Ausscannen verwendet wird, enthalten.
The semiconductor test system of claim 3 in which said serial data words contain a scan in bit used at scan in, and an expected bit used at scan out.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 8, mit einer Flusssteuerung (314), die mit dem Arbeitsblatt-Arbeitsbuch und dem Datenmanager zusammenarbeitet, um den Fluss von Arbeitsblatt-Information an den Datenmanager zu steuern.
The semiconductor test system of claim 8 including a flow control (314) cooperating with said spreadsheet workbook and said datamanager to control the flow of spreadsheet information to said datamanager.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 2, mit einem Arbeitsblatt-Arbeitsbuch (312) mit einem oder mehreren Arbeitsblättern, die die Nameneinrichtungsparameterdaten enthalten.
The semiconductor test system of claim 2 including a spreadsheet workbook (312) having one or more spreadsheets containing said named device parameter data.
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Synoniemen voor Halbleitertestsystem in het Duits
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