Vertaling van "Test-IC" in Engels
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Der Test-IC wird auf einer universellen Testleiterkarte angeordnet und verschaltet.
The test IC is located and wired on a universal test board.
Die für den Test-IC gewünschte Spannung wird verdrahtungsprogrammiert.
The voltage selected for the test IC is hard-wire programmed.
Der Test-IC wird wie in Kapitel 3.2 angeschlossen.
Der Test-IC wird in Funktion getestet.
The test IC is tested in operation.
Zum Beispiel können im Test-IC unvollständige Resets ausgelöst werden, die in ihrer Dauer im ns-Bereich liegen.
Incomplete resets whose duration is in the ns range can be triggered in the test IC, for example.
Signalübertragung vom Test-IC zu den Oszilloskop Tastköpfen
to transmit signals from the test IC to the oscilloscope probe heads,
Der Test-IC kann Fehlersignale abgeben, die kleiner als 1 ms sind.
The test IC can output error signals of less than 1 ms.
Es ist nur eine Leiterplatte (Testleiterkarte) für den Test-IC zu entwickeln.
Only one circuit board (test board) has to be developed for the test IC.
Für jeden Test-IC (unterschiedliches Pinout und Funktion) muss eine Testleiterkarte entwickelt und gefertigt werden.
A special test board has to be developed and manufactured for each test IC (different pinout and function).
Der Test-IC wird anstelle des Connection Boards mit einer Anwender-Elektronik betrieben.
The test IC is operated via the user's electronic device instead of the connection board.
Weiterhin können vom Test-IC Signale, mit einer höheren Bandbreite als der Oszilloskop-Adapter realisiert, übertragen werden.
Furthermore, signals with a higher bandwidth as implemented by the oscilloscope adapter can be transmitted from the test IC.
Auf den Stecker wird die Testleiterkarte mit dem Test-IC gesteckt.
The test board with the test IC is inserted into this plug.
Der Tastkopfhalter kann Oszilloskop-Tastköpfe aufnehmen und dient der sicheren Kontaktierung der Tastspitze des Oszilloskops mit dem Test-IC.
The probe head holder is used to accommodate the oscilloscope probe heads and ensures that the probe tip makes reliable contact with the test IC.
