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Système de test de semiconducteurs
Halbleitertestsystem nach Anspruch 13, bei dem der Baum ein binärer Baum ist.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 1, bei dem die selbständigen Objekte in dem Bedienerfenster alle miteinander kommunizieren.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 1, dans lequel lesdits objets auto-contenus dans ladite fenêtre d'opérateur communiquent tous les uns avec les autres.
HALBLEITERTESTSYSTEM MIT SPEICHERUNG VON PIN-KALIBRIERUNGSDATEN, KOMMANDOS UND ANDEREN DATEN IM NICHTFLÜCHTIGEN SPEICHER
SYSTEME D'ESSAI DE SEMI-CONDUCTEURS STOCKANT DES DONNEES D'ETALONNAGE DE CARTE IMPRIMEE, DES COMMANDES ET AUTRES DONNEES DANS UNE MEMOIRE NON VOLATILE
Halbleitertestsystem nach Anspruch 13, bei dem ein kommerziell erhältliches Programm die Namendaten in der geordneten Sequenz speichert und sucht.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 13, dans lequel un programme disponible commercialement stocke et recherche lesdites données nommées dans ladite séquence ordonnée.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 13, bei dem Behälter in der gleichen Weise wie die verschachtelten Ebenen der Namendaten verschachtelt sind.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 13, dans lequel lesdits conteneurs sont nichés de la même façon que lesdits niveaux nichés desdites données nommées.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 1, 2 oder 3, bei dem die selbständigen Steuerungsobjekte sowohl Code- als auch grafische Anwenderschnittstelleninformation umfassen.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 1, 2 ou 3, dans lequel lesdits objets de commande auto-contenus comprennent à la fois un code et une information d'interface utilisateur graphique.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 2, mit einem Arbeitsblatt-Arbeitsbuch (312) mit einem oder mehreren Arbeitsblättern, die die Nameneinrichtungsparameterdaten enthalten.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 2, incluant un manuel de tableurs (312) qui comporte un ou plusieurs tableurs contenant lesdites données de paramètre de dispositif nommées.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 2, bei dem eine geordnete Sequenz eine numerisch geordnete Sequenz ist und die Abbildungshinweise die Position der Namendaten in der numerisch geordneten Sequenz sind.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 2, dans lequel ladite séquence ordonnée est une séquence ordonnée numériquement et lesdits indices de cartographie sont la position desdites données nommées dans ladite séquence ordonnée numériquement.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 12, bei dem ein besagter Mehrfachbehälter einen Anzeiger der Position der Namendaten in dem geordneten Sequenzvektor speichert.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 12, dans lequel un dit multi-conteneur stocke un indicateur de la position desdites données nommées dans ledit vecteur de séquence ordonnée.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 1 oder 2, bei dem das selbständige Prüfgerät-Steuerungsobjekt und die selbständigen Bedienersteuerungsobjekte in dem Bedienerfenster sind und miteinander kommunizieren.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 1 ou 2, dans lequel ledit objet de commande de testeur auto-contenu et lesdits objets de commande d'opérateur auto-contenus sont dans ladite fenêtre d'opérateur et communiquent les uns avec les autres.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 9, mit einer oder mehreren Testschablonen (320), die mit dem Datenmanager zusammenarbeiten, wobei die Flusssteuerung den Fluss der Testschabloneninformation an den Datenmanager steuert.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 9, incluant un ou plusieurs gabarits de test (320) coopérant avec ledit gestionnaire de données, ladite commande de flux commandant le flux de ladite information de gabarit de test sur ledit gestionnaire de données.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 16 mit einer Kommunikationsschnittstelle (2028), die die Kommunikationsnetzwerkschicht zwischen dem Handler und dem Handlertestgerät-Steuerungsobjekt definiert.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 16, comportant une interface de communication (2028) qui définit la couche de réseau de communication entre ledit dispositif de manipulation et ledit objet de commande de testeur de dispositif de manipulation.
Halbleitertestsystem nach Anspruch 8, bei dem die Steuerungsobjekte in der Visual Basic-Programmiersprache programmiert sind.
Système de test de semiconducteurs selon la revendication 8, dans lequel lesdits objets de commande sont programmés dans le langage de programmation Visual Basic.
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