Vertaling van "MicroProf DI" in Duits
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With the MicroProf DI, high quality can be ensured during the entire wafer production process.
Mit dem MicroProf DI kann eine hohe Qualität während der gesamten Waferherstellung sichergestellt werden.
The MicroProf DI offers a reliable platform technology, including highly flexible software with an unprecedented level of usability.
MicroProf DI bietet eine zuverlässige Plattformtechnologie, einschließlich hochflexibler Software mit einem beispiellosen Grad an Benutzerfreundlichkeit.
The optical inspection tool MicroProf DI now makes it possible to inspect structured and unstructured wafers during the entire manufacturing process.
Das optische Inspektionssystem MicroProf DI macht jetzt die Kontrolle von strukturierten und unstrukturierten Wafern während des gesamten Herstellungsprozesses möglich.
With maximum quality, reduced space needed in manufacturing and reduced processing times, the MicroProf DI reaches highest customer infographic
Durch maximale Qualität, verringerten Platzbedarf in der Fertigung und reduzierte Bearbeitungszeiten, erreicht der MicroProf DI höchste Kundezufriedenheit.
The innovative illumination concept of the MicroProf DI makes a variety of defect types visible and detects local failures, inclusions and other defects regardless of their position.
Das innovative Beleuchtungskonzept des MicroProf DI macht eine Vielzahl von Fehlertypen sichtbar und erkennt lokale Fehler, Einschlüsse und andere Defekte unabhängig von ihrer Position.
In this way, MicroProf DI finds, identifies and classifies defects at the earliest possible stage and thus provides the basis for high-quality wafers and later chips.
So findet, identifiziert und klassifiziert der MicroProf DI Defekte zum frühestmöglichen Zeitpunkt und liefert damit die Basis für hochwertige Wafer und später Chips. Ganze Infografik anschauen
The modular configuration of the MicroProf DI covers the entire range of different applications in chip and wafer manufacturing including incoming process qualification, wafer qualification, research and development and process monitoring.
Die modulare Konfiguration des MicroProf DI deckt das gesamte Spektrum der verschiedenen Applikationen in der Chip- und Waferfertigung ab, einschließlich der Qualifizierung von Eingangsprozessen, der Wafer-Qualifizierung, Forschung und Entwicklung sowie der Prozessüberwachung.
The MicroProf DI includes several modules that can be flexibly combined on the same tool platform, covering all wafer surfaces at high throughput for efficient process control.
MicroProf DI verfügt über verschiedene, auf derselben Geräteplattform flexibel kombinierbare Module, die alle Waferoberflächen bei hohem Durchsatz für eine effiziente Prozesskontrolle abdecken.
The MicroProf DI includes several modules like optical inspection and classification of defects via single-shot and step module, review of defects via a high-precision microscope and comprehensive multi-sensor metrology with different topography and film thickness sensors.
Der MicroProf DI umfasst mehrere Module wie optische Inspektion und Klassifizierung von Defekten über Singleshot- und Step-Modul, Überprüfung von Defekten über ein hochpräzises Mikroskop und eine umfassende Multisensor-Messtechnik mit verschiedenen Topographie- und Schichtdickensensoren.
By combining 2D and 3D technologies to detect defects and measure features critical to today's advanced packaging technology, the MicroProf DI meets industry demands for throughput, accuracy and reliability.
Durch die Kombination von 2D- und 3D-Technologien zur Erkennung von Defekten und zur Messung von Features, die für die heutige Packaging-Technologie entscheidend sind, erfüllt MicroProf DI die Erwartungen der Industrie an Durchsatz, Genauigkeit und Zuverlässigkeit.
Intelligent defect analysis prevent yield loss through early identification The optical inspection system MicroProf DI enables the inspection of...
Intelligente Defektanalyse verhindert Ertragseinbußen durch frühzeitige Identifikation Das optische Inspektionssystem MicroProf DI macht die...
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Kennen Sie schon unsere MetrologyTuesday-Artikel zum Thema MicroProf DI - Hochpräzise optische Oberflächeninspektion für Halbleiteranwendungen?