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Prüfsonde nach
Testanordnung nach
Test probe according to any of claims 1 to 7, characterized in that a pre-tensioning element (29a) is provided, to pre-tension the retaining arms against the direction of contacting by a specific amount.
Prüfsonde nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass ein Vorspannelement (29a) vorgesehen ist, das die Haltearme entgegen der Kontaktierungsrichtung um einen bestimmten Betrag vorspannt.
Test probe according to claim 1, characterized in that both pairs of retaining arms comprise a retaining arm made of an electrically conductive material and are electrically connected to the test needle.
Prüfsonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass beide Paare Haltearme einen aus einem elektrisch leitenden Material ausgebildeten Haltearm aufweisen und mit der Prüfnadel elektrisch verbunden sind.
Test probe according to claim 1, characterized in that said circuit card traces (52) lie in a common plane and that said contact portions (56, 58) are displaced by said gasket (44) outwardly from said common plane.
Testanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltungskarten-Leiterbahnen (52) in einer gemeinsamen Ebene liegen und daß die Kontaktabschnitte (56, 58) durch die Dichtung (44) gegenüber der gemeinsamen Ebene nach außen versetzt sind.
Test probe according to any of claims 1 - 5, characterized in that said multi-layer circuit card (54) further comprises a layer (62) of dielectric covering portions of said circuit card traces (52).
Testanordnung nach einem der Ansprüche 1 - 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Mehrschicht-Schaltungskarte (54) weiterhin eine Schicht (62) aus einem dielektrischen Material aufweist, die Abschnitte der Schaltungskarten-Leiterbahnen (52) bedeckt.
Test probe according to any of claims 1 - 9, characterized in that said gasket (44) extends in its uncompressed state with its surface (55) beyond surface (51) of said rigid dielectric layer (50).
Testanordnung nach einem der Ansprüche 1 - 9, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Dichtung (44) in ihrem nicht komprimierten Zustand mit einer Fläche (55) über eine Fläche (51) der starren dielektrischen Schicht (50) hinaus erstreckt.
Test probe according to claim 9, characterized in that the position sensor has a photoelectric switch with an optical measuring section provided on the mount, and a vane to interrupt the optical measuring section provided on the test needle.
Prüfsonde nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Positionssensor eine an der Halterung ausgebildete Lichtschranke mit einer Lichtmessstrecke und eine an der Prüfnadel angeordnete Fahne zum Unterbrechen der Lichtmesstrecke aufweist.
Test probe according to claim 4, characterized in that the retaining arm or arms which is or are closer to the probe tip is or are longer than the retaining arm(s) which is or are further from the probe tip.
Prüfsonde nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der bzw. die näher an der Prüfspitze angeordneten Haltearm(e) länger als der bzw. die von der Prüfspitze weiter entfernt angeordnete(n) Haltearm(e) ist(sind).
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