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atomic force microscopes
Geflecteerde vorm van atomic force microscope
Vertaling van "atomic force microscopes" in Duits
Rasterkraftmikroskope
Rasterkraftmikroskopen
Atomkraftmikroskopen
Rasterkraftmikroskopie
Atomkraftmikroskope
Rasterkraft-Mikroskope
In addition, the company supplies silicon tips for atomic force microscopes, a key tool for the mechanical scanning of surfaces and for measuring atomic forces in the nanometer scale.
Zudem liefert das Unternehmen Silizium-Messspitzen für Rasterkraftmikroskope, eines der Schlüsselwerkzeuge zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und zur Messung atomarer Kräfte im Nanometer-Maßstab.
atomic force microscopes with resolutions in the sub-nanometer range
Rasterkraftmikroskope mit Auflösungen im Sub-Nanometerbereich
They can be used to measure the size and direction of forces in atomic force microscopes.
In Rasterkraftmikroskopen können sie für die Erfassung der Grösse und Richtung von Kräften genutzt werden.
In the last few years, such atomic sensors have also proven useful for work with atomic force microscopes.
Derartige atomare Sensoren haben sich in den letzten Jahren auch für die Arbeit mit Rasterkraftmikroskopen bewährt.
All users of atomic force microscopes, nanomechanical test instrumentation, and complementary nanomeasurement techniques and technologies are encouraged to submit paper and poster abstracts.
Benutzer von Atomkraftmikroskopen, nanomechanical Prüfungsinstrumentierung und alle ergänzenden nanomeasurement Techniken und Technologien werden angeregt, Zusammenfassungen des ursprünglichen Papiers und des Plakats einzugeben.
The method of claim 1, wherein the substrate and the attached layer generate a signal and said signal is analyzed by an instrument selected from the group consisting of profilometers, reflectometers, scanning tunneling microscopes, atomic force microscopes, or interferometers.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Substrat und die anhaftende Schicht ein Signal erzeugen und dieses Signal durch ein Instrument analysiert wird, das gewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus Profiltastschnittgeräten, Reflexionsmessern, Raster-Tunnelmikroskopen, Atomkraftmikroskopen oder Interferometern.
He developed near-field microwave microscopy (scanning microwave impedance microscopy) based on atomic force microscopes for studies on mesoscopic length scales, e.g. nanostructured materials.
Er entwickelte Nahfeld-Mikrowellen-Mikroskopie (Scanning Microwave Impedance Microscopy) basierend auf Rasterkraftmikroskopen für Studien auf mesoskopischer Längenskala zum Beispiel von nanostrukturierten Materialien.
For example, chromatic white light sensors, infrared film thickness sensors, thin film sensors, atomic force microscopes or confocal microscopes can be used - to name just a few.
Es können unter anderem chromatische Weißlichtsensoren, Infrarot-Schichtdickensensoren, Dünnschichtsensoren, Rasterkraftmikroskope oder Konfokalmikroskope eingesetzt werden - um nur eine Auswahl zu nennen.
The aim of the work is to produce reference objects for nanomechanical and dimensional measurements to check and calibrate nanoindenters, atomic force microscopes and optical topography measuring instruments.
Ziel ist es, Referenzobjekte für nanomechanische Messungen für Nanoindenter und Rasterkraftmikroskope (CR-FM) bereitzustellen.
Through this, for example, the performance of atomic force microscopes can be significantly increased by making special 3D structures act as nano probes in order to make additional material information accessible at the nanometer resolution range.
Dadurch lässt sich beispielsweise die Performance von Rasterkraftmikroskopen deutlich steigern, indem spezielle 3D-Strukturen als Nanosonden agieren um zusätzliche Materialinformationen mit Nanometerauflösung zugänglich zu machen.
This application note discusses the development and implementation of several new features that improve the flexibility, accuracy, and productivity of atomic force microscopes (AFMs) in measuring such important material properties as modulus and adhesion.
Dieser Anwendungshinweis erläutert die Entwicklung und Implementierung mehrerer neuer Funktionen, die die Flexibilität, Genauigkeit und Produktivität von Rasterkraftmikroskopen (AFMs) bei der Messung wichtiger Materialeigenschaften wie E-Modul und Haftung verbessern.
A piezo-based six-axis nanopositioning system is well suited for precise scans with atomic force microscopes (AFM).
Ein piezobasiertes sechsachsiges Nanopositioniersystem ist für präzise Scans bei Rasterkraftmikroskopen (AFM) sehr gut geeignet.
They are used, for example, in nano-positioning units for atomic force microscopes (ATMs).
Sie werden beispielsweise in Nano-Positioniereinheiten für Rasterkraftmikroskope verwendet.
Synoniemen voor atomic force microscopes in het Engels
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