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in-circuit debugging
Vertaling van "in-circuit debugging" in Duits
In-Circuit-Debugging
In-Circuit Debugging-Probes
In-Circuit Debugging-Probe
The incorporated C-SPY Debugger includes comprehensive functionality such as performance profiling, stack analysis and power profiling. It is complemented by a range of integrated probes for in-circuit debugging and trace.
Der integrierte C-SPY Debugger bietet umfassende Funktionen wie Performance-Profiling, Stack-Analyse und Power-Profiling und wird von diversen integrierten Probes für In-Circuit-Debugging und -Trace ergänzt.
JTAGjet-Trace is an in-circuit debugging probe with advanced trace features for complex application development.
JTAGjet-Trace ist eine In-Circuit-Debugging Probe mit hochentwickelten Trace-Funktionen für die Entwicklung komplexer Anwendungen.
For in-circuit debugging, IAR Systems provides the probe I-jet, delivering a high-speed debugging platform with full code control.
Für das In-Circuit-Debugging bietet IAR Systems die Probe I-jet und damit eine Hochgeschwindigkeits-Debugging-Plattform für eine vollständige Codekontrolle.
For enhanced debug capabilities, IAR Systems also offers a range of fully integrated in-circuit debugging probes sold separately. I-jet provides an exceptionally fast debugging platform and has the capability of measuring target power consumption with a high degree of accuracy.
Für ein verbessertes Debugging bietet IAR Systems auch eine Reihe von vollständig integrierten In-Circuit Debugging-Probes, die separat erhältlich sind: Der I-jet dient als besonders schnelle Debugging-Plattform und erlaubt eine extrem genaue Messung der Stromaufnahme des Zielgeräts.
It is complemented by a range of in-circuit debugging and trace probes, including the new I-jet Trace, and integrated add-on tools for static analysis and runtime analysis.
Sie wird ergänzt durch eine Reihe von In-Circuit Debugging und Trace Probes wie das neue I-jet Trace sowie durch integrierte Add-on-Tools für die statische Analyse und die Laufzeitanalyse.
IAR Systems also provides a range of integrated in-circuit debugging probes targeted for simplified, seamless and more flexible development workflows.
Außerdem bietet IAR Systems eine Reihe von integrierten In-Circuit Debugging-Probes für einfache, nahtlose und flexiblere Entwicklungsabläufe.
Recent enhancements to the tools include a flexible integration with external code analysis tools and added support for IAR Systems' I-scope probe that used together with the in-circuit debugging probe I-jet adds possibilities for detailed current and voltage measurements.
Zu den neuesten Ergänzungen der Tools zählen auch die flexible Integration von externen Code-Analyse-Tools sowie die Unterstützung für die I-scope-Probe von IAR Systems, die in Verbindung mit der In-Circuit-Debugging-Probe I-jet verbessere Optionen für eine detaillierte Strom- und Spannungsmessungen bietet.
Today, IAR Systems introduces the new product I-jet, which is the first of the new range of in-circuit debugging probes to be made available.
Als erstes Produkt aus der neuen Serie von In-Circuit Debug Probes präsentiert IAR Systems den I-jet.
Added by the recently released version 6.60 is support for IAR Systems' I-scope probe, which is used together with the in-circuit debugging probe I-jet and adds capabilities for current and voltage measurements.
Neu in der erst kürzlich veröffentlichten Version 6.60 ist die Unterstützung von IAR Systems' neuer Probe I-scope, die in Verbindung mit der In-Circuit Debugging-Probe I-jet eine zielgerichtete Messung von Spannung und Stromaufnahme ermöglicht.
To ease their workload and improve efficiency during the debugging phase, IAR Systems offers a complete portfolio of in-circuit debugging probes, unlocking powerful debugging and trace features in IAR Embedded Workbench for ARM.
Um ihnen in der Debugging-Phase die Arbeit zu erleichtern und ihre Effizienz zu verbessern, bietet IAR Systems für die IAR Embedded Workbench ein vollständiges Portfolio an In-Circuit-Debugging-Probes mit leistungsfähigen Debugging- und Trace-Funktionen für ARM.
An in-circuit debugging option is available via a JTAG header for read back and real-time debugging of the FPGA design (using Xilinx "ChipScope").
Ein JTAG-Anschluss ermöglicht In-Circuit real-time Debugging des FPGA-Designs mit der Xilinx "ChipScope".
The kits include a size-limited license of the powerful toolchain IAR Embedded Workbench and can be used with IAR Systems' in-circuit debugging probe I-jet as well as other JTAG probes, and are also available in versions including an IAR J-Link Lite USB-JTAG/SWD debug probe.
Beide Kits beinhalten eine größenlimitierte Lizenz für die leistungsstarke Toolchain IAR Embedded Workbench und kann in Verbindung mit der In-Circuit Debugging-Probe I-jet von IAR Systems sowie anderen JTAG-Probes genutzt werden. Darüber hinaus sind Versionen mit IAR J-Link Lite USB-JTAG/SWD Debug-Probe erhältlich.
IAR Systems new in-circuit debugging probe I-jet, which is completely integrated with IAR Embedded Workbench, also supports the STM32 F0 microcontrollers.
Auch IAR Systems' neue, vollständig in der IAR Embedded Workbench integrierte In-Circuit-Debug Probe I-jet unterstützt die Mikrocontroller der STM32 F0-Familie.
Synoniemen voor in-circuit debugging in het Engels
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