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Method for design according to claim 17, wherein the adjustment of the dimensions of the conductive patches (400,410) in each element in stages 2) and 3) is carried out simultaneously for two independent orthogonal polarisations of the incident field.
Verfahren für den Entwurf nach Anspruch 17, wobei die Anpassung der Ausmaße der leitenden Teilflächen (400,410) in jedem Element in den Schritten 2) und 3) gleichzeitig für zwei unabhängige orthogonale Polarisationen des einfallenden Feldes ausgeführt wird.
Method for design according to claim 17 or 18, wherein the phase of the reflection coefficient is defined in stage 1) so that the field coming from the feed (110) is reflected forming several collimated beams in different directions.
Verfahren für den Entwurf nach Anspruch 17 oder 18, wobei die Phase des Reflektionskoeffizienten in Schritt 1) definiert wird, so dass das Feld, das von dem Feed (110) kommt, reflektiert wird und mehrere kollimierte Strahlen in verschiedenen Richtungen bildet.
SYSTEM AND METHOD FOR DESIGN AND IMPLEMENTATION OF INTEGRATED-CIRCUIT DIGITAL FILTERS
SYSTEM UND VERFAHREN ZUM ENTWURF UND IMPLEMENTIEREN VON DIGITALFILTERN DURCH INTEGRIERTE SCHALTUNGEN
INTERACTIVE SYSTEM AND METHOD FOR DESIGN, CUSTOMIZATION AND MANUFACTURE OF DECORATIVE TEXTILE SUBSTRATES
INTERAKTIVES SYSTEM UND VERFAHREN ZUM ENTWURF, ANPASSEN UND HERSTELLEN VON DEKORATIVEN TEXTILSUBSTRATEN
Quick and cost-effective method for design iterations
Method for design analysis according one of the claims 1 to 5 characterized by identifying the design defects or weaknesses due to application failures by a small set of test pattern, test condition, long running test (LRT) failure time and robustness check.
Verfahren zur Entwurfsanalyse nach einem der Ansprüche 1 bis 5, gekennzeichnet durch Identifizieren der Entwurfsdefekte oder -schwächen aufgrund von Anwendungsausfällen durch eine kleine Menge von Prüfmustern, Prüfbedingung, Ausfallzeit und Robustheitscheck der Langlaufprüfung (LRT).
Method for design analysis technique according claim 6 characterized by localizing the design defects or weaknesses based on long running test (LRT) failure time and test sequence by circuit simulation.
Verfahren einer Entwurfsanalysetechnik nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch Lokalisieren der Entwurfsdefekte oder -schwächen auf der Basis der Ausfallzeit und Prüfsequenz der Langlaufprüfung (LRT) durch Schaltungssimulation.
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