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said sample surface
Vertaling van "said sample surface" in Duits
die Probenoberfläche
der Probenfläche
der Probenoberfläche
The scanning tunnel microscope according to anyone of the preceding claims, characterized by further comprising a camera for photographing light reflected by said sample surface.
Raster-Tunnelmikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, das dadurch gekennzeichnet ist, daß es ferner eine Kamera aufweist, die Licht fotografiert, das durch die Probenoberfläche reflektiert wurde.
An apparatus as claimed in any one of claims 1 to 20, further including said sample, wherein said sample surface comprises a plastic polymer.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 20, welche des Weiteren die Probe umfasst, wobei die Probenoberfläche ein plastisches Polymer umfasst.
The microarray sample of claim 1 further comprising a plurality of second dilution spots (119) disposed on said sample surface, each said second dilution spot comprising a second fluorophore material.
Mikroarray-Probe nach Anspruch 1, darüber hinaus eine Vielzahl von zweiten, auf der Probenfläche angeordneten Lösungspunkten (119) umfassend, wobei jeder der zweiten Lösungspunkte eine zweite Fluorophorsubstanz umfasst.
The method of claim 20 wherein the plurality of dilution spots (119) are located at predetermined positions with respect to a fiducial mark (106) disposed on said sample surface (103).
Verfahren nach Anspruch 20, wobei sich die Vielzahl der Lösungspunkte (119) im Hinblick auf eine auf der Probenfläche (103) angeordneten Bezugsmarkierung (106) an vorbestimmten Positionen befinden.
A method as claimed in any one of claims 3 to 7, wherein said second probe electrode (109) is kept at a specified position above said sample surface.
Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Meßelektrode (109) an einer bestimmten Position über der Probenoberfläche gehalten wird.
A method as claimed in claim 4 in which said movement of said probe tip is recorded as data of relative displacement of said probe tip versus the distance of said probe tip from said sample surface.
Verfahren nach Anspruch 4, wobei die Bewegungen der Sondenspitze als Daten relativer Verschiebung der Sondenspitze gegenüber dem Abstand der Sondenspitze von der Probenoberfläche aufgezeichnet werden.
A scanning probe microscope according to claim 1 wherein said flexible cantilever (48), said force sensing probe tip (64) and said sample surface (52) are all submerged in a fluid (56).
Fühler-Abtast-Mikroskop nach Anspruch 1, bei dem der flexible Ausleger (48), der Kräfte wahrnehmende Fühlerkopf (64) und die Probenoberfläche (52) in ein Fluid (56) eingetaucht sind.
The method of claim 1, comprising: immersing said sample surface (18) and said probe tip and lever arm in a liquid during scanning motion and oscillating of said probe tip (12).
Das Verfahren gemäß Anspruch 1, umfassend: Eintauchen der genannten Probenoberfläche (18) und der genannten Sondenspitze und des Hebelarms in eine Flüssigkeit während der Abtastbewegung und des Schwingens der genannten Sondenspitze (12).
A method as claimed in claim 5 including the step of using said recorded data to set the operating point of said microscope by choosing a point on a plot of relative displacement versus distance from said sample surface.
Verfahren nach Anspruch 5, das den Schritt einschließt, die aufgezeichneten Daten zu verwenden, um den Betriebspunkt des Mikroskops durch Auswählen eines Punkts auf einem Diagramm relativer Verschiebung gegenüber der Distanz von der Probenoberfläche einzustellen.
Apparatus according to any one of claims 1 to 8, characterised in that at least one flat mirror (2) is positioned between said sample surface (5) and said collimating mirror and/or between said sensor and said collimating mirror to fold the optical path.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zur Faltung des optischen Wegs zwischen der Oberfläche (5) und dem Kollimatorspiegel und/oder zwischen dem Sensor und Kollimatorspiegel mindestens ein flacher Spiegel (2) positioniert ist.
The method of claim 10, wherein the array of test compounds is held stationary in the field of view of an optical detector and the detector layer is moved into contact with said sample surface during the course of measurement.
Verfahren nach Anspruch 10, wobei die Anordnung von Testverbindungen unbeweglich im Sichtfeld eines optischen Nachweisgeräts gehalten wird und die Nachweisschicht während des Messverlaufs in Kontakt mit der Nachweisschicht bewegt wird.
The AFM according to claim 14, comprising: a fluid in which said sample surface (14) and said probe tip (12) and lever arm (46) are immersed.
Das Atomkraft-Mikroskop gemäß Anspruch 14, umfassend: ein Fluid, in das die genannte Probenoberfläche (14) und die genannte Sondenspitze (12) und der Hebelarm (46) eingetaucht sind.
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Synoniemen voor said sample surface in het Engels
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