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zweite Testmuster
zweiten Testmusters
A recording method as set forth in claim 1, wherein the first and second test patterns are recorded as line-like patterns in the main scan direction.
Aufzeichnungsverfahren nach Anspruch 1, wobei das erste und das zweite Testmuster in der Hauptabtastrichtung als linienartige Muster aufgezeichnet werden.
A recording method as set forth in any of claims 1 to 4, wherein the first and second test patterns are recorded as line-like patterns in the main scan direction and the second test pattern is recorded between successive recordings of the first test pattern.
Aufzeichnungsverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei das erste und das zweite Testmuster in der Hauptabtastrichtung als linienartige Muster aufgezeichnet werden, und wobei das zweite Testmuster zwischen aufeinanderfolgenden Aufzeichnungen des ersten Testmusters aufgezeichnet wird.
The method as recited in claim 23, wherein individual data bits of said plurality of data bits are masked during a transmission of said first test patterns and said second test patterns.
Verfahren nach Anspruch 23, wobei individuelle Datenbits der Mehrzahl von Datenbits während einer Übertragung des ersten Testmusters und des zweiten Testmusters maskiert werden.
A table in which the dependence of the ratios of the area coverages of the first and second test patterns is entered against the dot sizes is used for this purpose, for example.
Dazu wird z.B. eine Tabelle verwendet, in der die Abhängigkeit der Verhältnisse der Flächendeckungen des ersten und zweiten Testmusters über die Punktgrößen eingetragen ist.
The method as recited in claim 33, wherein each of said slave chips is configured to drive said second test patterns in said sequence programmed by said master chip.
Verfahren nach Anspruch 33, wobei jeder der Slavechips so ausgestaltet ist, daß er das zweite Testmuster in der Sequenz abgibt, welche durch den Masterchip programmiert wurde.
The method as recited in claim 22, wherein said master chip is configured to program a sequence for each of said slave chips to drive said second test patterns to said master chip.
Verfahren nach Anspruch 22, wobei der Masterchip dafür ausgelegt ist, eine Sequenz für jeden der Slavechips zu programmieren, um das zweite Testmuster an den Masterchip abzugeben bzw. zu senden.
The method as recited in claim 22, wherein said first test patterns and said second test patterns include a plurality of transitions between a logic high voltage and a logic low voltage.
Verfahren nach Anspruch 22, wobei die ersten Testmuster und die zweiten Testmuster eine Mehrzahl von Übergängen zwischen einer logisch hohen Spannung und einer logisch niedrigen Spannung aufweisen.
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Synoniemen voor second test patterns in het Engels