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silicon samples
Vertaling van "silicon samples" in Duits
Siliziumproben
Recently it was found, that even small surface roughness values of Sa = 5 nm of silicon samples lead to large deviations of the measured indentation modulus and hardness of several ten percent.
Kürzlich wurde bei Nanoindentationsmessungen festgestellt, dass bereits kleine Oberflächen-rauheiten von Siliziumproben in der Größenordnung von Sa = 5 nm zu großen Abweichungen des gemessenen Eindringmoduls und der Eindringhärte von einigen zehn Prozent führen.
The surface roughness of the unetched and the etched silicon samples was measured using atomic force microscope (AFM).
Die Rauheit der ungeätzten und der geätzten Siliziumproben wurde unter Verwendung eines Rasterkraftmikroskops (AFM) gemessen.
Another finding is that the orientation of the crystalline silicon samples has a strong influence on the obtained surface roughness due to ICP-RIE etching.
Ein weiteres Ergebnis ist, dass die Orientierung der kristallinen Siliziumproben einen starken Einfluss auf die durch ICP-RIE-Ätzung erhaltene Rauheit hat.
To determine the thickness of oxide layers on silicon samples via X-ray reflectometry, radiation in the range of the oxygen absorption edge at 2.3 nm is used for contrast enhancement, for example, as is the case for the silicon spheres of the Avogadro project.
Zur Bestimmung der Dicke von Oxidschichten auf Siliziumproben über Röntgenreflektomerie wird zur Kontrast-erhöhung beispielsweise, wie bei den Silziumkugeln des Avogadro-Projektes, Strahlung im Bereich der Sauerstoff-Absorptionskante bei 2,3 nm verwendet.
For a series of silicon samples, this was done up to a fluence of 1020 ions/cm2.
Für eine Serie von Si Proben wurde diese Entwicklung bis zu Fluenzen von 1020 Ionen/cm2 durchgeführt.
The aim of the work is to investigate the influence of surface roughness on the determination of the indentation modulus and the indentation hardness of crystalline silicon samples.
Der Einfluss der Oberflächenrauheit auf die Bestimmung des Eindringmoduls und der Eindringhärte kristalliner Siliziumproben wurde untersucht.
They are eligible to receive "General" Member tier benefits plus "Select" logos, an invitation to join New Product Introduction (NPI) Beta program and will have early access to design materials, silicon samples and reference design platforms.
Sie erhalten die Vorteile der allgemeinen Mitgliederstufe plus „Select"-Logos, eine Einladung, dem New Product Introduction (NPI) Beta-Programm beizutreten, und sie haben früher Zugriff auf Entwicklungsmaterial, Chipmuster und Referenz-Designplattformen.
Silicon samples for evaluation purposes are available on request.
Muster des Hall-Sensors stehen für Evaluierungszwecke auf Anfrage zur Verfügung.
Synoniemen voor silicon samples in het Engels
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