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Oberflächendefekten auf einer Leiterplatte
A method for detecting surface defects on a PCB as recited in claim 1, wherein said image is in the form of a bitmap.
Verfahren zum Erfassen von Oberflächendefekten auf einer Leiterplatte nach Anspruch 1, wobei das Bild in der Form einer Bitmap vorliegt.
A method for detecting surface defects on a PCB as recited in claim 7, wherein said vectorial model includes a polygon representation of every components on each layer.
Verfahren zum Erfassen von Oberflächendefekten auf einer Leiterplatte nach Anspruch 7, wobei das Vektormodell eine Polygonrepräsentation von allen Bauteilen auf jeder Schicht umfaßt.
A method for detecting surface defects on a PCB as recited in claim 30, wherein said list of polygons includes visible and hidden contours; said hidden contours being extrapolated using said visible contours.
Verfahren zum Erfassen von Oberflächendefekten auf einer Leiterplatte nach Anspruch 30, wobei die Liste von Polygonen sichtbare und versteckte Konturen einschließt, wobei die versteckten Konturen unter Verwendung der sichtbaren Konturen extrapoliert werden.
A method for detecting surface defects on a PCB as recited in claim 1, wherein said anomalies detecting step includes using said computer model to create an image of said computer model and comparing said PCB image with said image of said computer model.
Verfahren zum Erfassen von Oberflächendefekten auf einer Leiterplatte nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Erfassens von Anomalien die Verwendung des Computermodells zum Erzeugen eines Bilds des Computermodells und zum Vergleichen des Leiterplattenbilds mit dem Bild des Computermodells umfaßt.
A method for detecting surface defects on a PCB as recited in claim 2, wherein each of said at least one layer of said computer model being aligned with said PCB image before the anomalies detecting step.
Verfahren zum Erfassen von Oberflächendefekten auf einer Leiterplatte nach Anspruch 2, wobei jede der mindestens einen Schicht des Computermodells mit dem Leiterplattenbild ausgerichtet wird, bevor der Anomalie-Erfassungsschritt durchgeführt wird.
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