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test pattern signals
Vertaling van "test pattern signals" in Duits
Testmustersignale
Testmustersignalen
The method of claim 15 further comprising applying the generated test pattern signals and the phase-matched test clock signal to a device under test.
Das Verfahren nach Anspruch 15, ferner umfassend ein Anlegen der erzeugten Testmustersignale und des phasenabgeglichenen Testtaktsignals an ein zu testendes Bauelement.
The apparatus of claim 1 wherein each of the period vernier test pattern generator (320) and the phase-locked-loop clock (360) is programmable to generate corresponding test pattern signals and test clock signals for different types of devices to be tested.
Die Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei sowohl der Periodenfeinabstimmungs-Testmustergenerator (320) als auch der Phasenverriegelungsschleifentaktgeber (360) so programmierbar sind, daß sie entsprechende Testmustersignale und Testtaktsignale für verschiedene Arten von zu testenden Bauelementen erzeugen.
The method of claim 18 wherein generating a phase-matched test clock signal further comprises generating the test pattern signals and the test clock signal based on a common master clock reference.
Das Verfahren nach Anspruch 18, wobei das Erzeugen eines phasenabgeglichenen Testtaktsignals ferner ein Erzeugen der Testmustersignale und des Testtaktsignals auf der Grundlage einer gemeinsamen Mastertaktreferenz umfaßt.
The method of claim 15 wherein generating the multiple or sub-multiple frequency test clock signal comprises substantially matching a frequency of the test clock signal to a frequency of the test pattern signals.
Das Verfahren nach Anspruch 15, wobei das Erzeugen des Testtaktsignals der vielfachen oder ganzzahligen Teilfrequenz umfaßt, daß eine Frequenz des Testtaktsignals mit einer Frequenz der Testmustersignale im wesentlichen in Übereinstimmung gebracht wird.
The method of claim 16 wherein the generated test pattern signals are applied to data pins of the device under test and the multiple or sub-multiple frequency and phase-matched test clock signal is applied to a clock input pin of the device under test.
Das Verfahren nach Anspruch 16, wobei die erzeugten Testmustersignale an die Datenpins des zu testenden Bauelements angelegt werden und das phasenabgeglichene Testtaktsignal von der vielfachen oder ganzzahligen Teilfrequenz an ein Takteingangspin des zu testenden Bauelements angelegt wird.
The method of claim 15 wherein generating a phase-matched test clock signal comprises synchronizing the test clock signal to the test pattern signals using the programmable phase-locked loop.
Das Verfahren nach Anspruch 15, wobei das Erzeugen eines phasenabgeglichenen Testtaktsignals ein Synchronisieren des Testtaktsignals mit den Testmustersignalen unter Verwendung der programmierbaren Phasenverriegelungsschleife umfaßt.
The method of claim 29 further comprising re-synchronizing the test clock signal with the test pattern signals by controlling a delay line or a gate or both to alter a timing of the test clock signal.
Das Verfahren nach Anspruch 29, ferner umfassend ein Resychronisieren des Testtaktsignals mit den Testmustersignalen durch Steuern einer Verzögerungsleitung oder einer Austastschaltung oder beider Schaltungen, so daß eine Zeitgabe des Testtaktsignals geändert wird.
The method of claim 20 wherein substantially matching the frequency of the test clock signal comprises controlling one or more programmable dividers to adjust the test clock signal to be a multiple or sub-multiple of the frequency of the test pattern signals.
Das Verfahren nach Anspruch 20, wobei dieses In-Übereinstimmung-Bringen der Frequenz des Testtaktsignals ein Steuern eines oder mehrerer programmierbare Teiler zum Einstellen des Testtaktsignals auf ein Vielfaches oder einen ganzzahligen Teil der Frequenz der Testmustersignale umfaßt.
The method of claim 15 further comprising: changing a frequency of the test pattern signals; and adjusting the frequency of the test clock signal to match the changed frequency of the test pattern signals by re-programming one or more programmable dividers.
Das Verfahren nach Anspruch 15, ferner umfassend: Ändern einer Frequenz der Testtasktsignale; und Einstellen der Frequenz des Testmustersignals derart, daß sie mit der geänderten Frequenz der Testmustersignale übereinstimmt, durch Umprogrammieren eines oder mehrerer programmierbarer Teiler.
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Synoniemen voor test pattern signals in het Engels
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