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under test Integrated
Examples with "under test Integrated" and their translation in Duits
The master/slave debug system according to claim 1 or 2, characterized in that the device under test integrated circuits (master DUT IC; slave DUT IC) are system-on-chip type integrated circuits.
Master/Slave-Debugging-System nach Anspruch 1 oder 2, welches dadurch gekennzeichnet wird, daß die integrierten Schaltungen der Vorrichtung im Test (Master-DUT-IC; Slave-DUT-IC) integrierte Schaltungen der Bauart mit einem System auf dem Chip sind (system-on-chip).
Text processing with regular expressions Full access to the Java API of the application under test Integrated scripting with Jython and Groovy, command line scripting
Die Skripte ermöglichen auch direkten Zugriff auf das Java API sowie die Ausführung eigener JavaScript Codes direkt im Browser. Kommandozeilenskripting ist möglich.
Andere resultaten
Full access to the Java API of the application under test by integrated scripting languages Groovy, Jython and JavaScript
Zugriff auf das gesamte Java API der zu testenden Java Anwendung über integrierte Skriptsprachen Groovy, Jython und JavaScript
The module is inserted directly into the DDR4 socket of a device under test and is integrated to produce the enhanced boundary scan test using the boundary scan chain.
Das Modul wird direkt in die DDR4-Sockel eines Prüflings gesteckt und wird über die Boundary Scan Kette zum erweiterten Boundary Scan Test eingebunden.
APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING TEMPERATURE IN A WAFER AND A DEVICE UNDER TEST USING INTEGRATED TEMPERATURE SENSITIVE DIODE
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR REGELUNG DER TEMPERATUR IN EINER HALBLEITERSCHEIBE UND EINE IM GETESTETEN OBJEKT INTEGRIERTE TEMPERATUREMPFINDLICHE DIODE
The IC test system can be used to analyse the behaviour of integrated circuits under the selective influence of conducted and radiated disturbances and/or respective emissions.The device under test (integrated circuit) is tested in operation (Figure 1).
Mit Hilfe des IC-Testsystems kann das Verhalten von Schaltkreisen bei gezielter Störgrößeneinwirkung (feld- und leitungsgebunden) bzw. deren Störaussendung untersucht werden.Der Test-IC (Schaltkreis) wird in Funktion getestet (Bild 1).
Integrated reconstruction methods based on digital thomosynthesis enables the defined evaluation of individual layers of the circuit board under test.
Integrierte Rekonstruktionsverfahren basierend auf der digitalen Tomosynthese gestatten die definierte Auswertung von einzelnen Schichten der zu prüfenden Leiterplatte.
An automatic, adjustable measurement of work piece under test with controlled errors is integrated in course for secured checking of the measuring probe.
Im Ablauf eingebunden ist zur sicheren Überprüfung der Messsonde eine automatische, Einstellbare Messung eines Prüfwerkstücks mit kontrollierten Fehlern.
Protect your device under test from accidental damage with integrated OVP circuit and microprocessor-controlled maximum voltage setting.
Schutz des zu prüfenden Geräts vor zufälliger Beschädigung mit integrierter Überspannungsschutzschaltung und mikroprozessorgeregelter Einstellung der maximalen Spannung.
The HIL simulation can be based, for example, on real navigation date or data from a video camera integrated in the ECU under test.
Die HIL-Simulation kann dabei auf echten Navigationsdaten basieren oder auf Daten einer Videokamera, die in das zu testende Steuergerät integriert ist.
Integrated reconstruction methods based on planarGT provide detailed evaluation of the PCB under test layer by layer.
Integrierte Rekonstruktionsverfahren basierend auf der planarGT gestatten die definierte Auswertung von einzelnen Schichten der zu prüfenden Leiterplatte.
Fully integrated, high performance test systems which are particular developed for this use case consist of modular software and hardware platforms that allow an easy integration and verification of units under test.
Die dafür speziell entwickelten leistungsstarken und hochintegrierten Testsysteme, bestehen aus modularen Soft- und Hardware Plattformen, die eine leichte Integration und Verifikation des jeweiligen Prüflings erlauben.
The present invention relates to probe measurement systems for measuring the electrical characteristics of integrated circuits and other microelectronic devices tested by simultaneously applying a direct current and a modulation signal to the device-under-test.
Die vorliegende Erfindung betrifft Prüfkopfmeßsysteme zum Messen der elektrischen Eigenschaften integrierter Schaltkreise und anderer mikroelektronischer Vorrichtungen, die überprüft werden, indem an die zu testende Vorrichtung gleichzeitig ein Gleichstrom und ein Modulationssignal angelegt werden.
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Synoniemen voor under test Integrated in het Engels
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