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using atomic force microscopy
Vertaling van "using atomic force microscopy" in Duits
mittels Rasterkraftmikroskopie
mittels Atomkraftmikroskopie
Method and apparatus for measuring electrical waveforms using atomic force microscopy
Verfahren und Vorrichtung zur Messung von elektrischen Wellenformen mittels Atomkraftmikroskopie
Surface topography of thin layers for chip fabrication using atomic force microscopy
Oberflächentopographie von Dünnfilmen für die Chip-Fertigung mittels Rasterkraftmikroskopie
A method for determining material interfacial and metrology information of a sample using atomic force microscopy
Verfahren zur Bestimmung von Materialgrenzflächen- und Messinformationen einer Probe mittels Atomkraftmikroskopie
In order to be able to analyze these sub-nanometer structures in a non-destructive way using atomic force microscopy you need to perform a surface inspection of the whole wafer.
Um diese Subnanometer-Strukturen unter Verwendung der Rasterkraftmikroskopie zerstörungsfrei analysieren zu können, ist eine Oberflächeninspektion des kompletten Wafers erfoderlich.
This year's technical sessions cover nano-structural imaging, characterization, and technique development in biology, energy, and material science applications using atomic force microscopy and related techniques
Diesjährige technische Sitzungen umfassen Nano - strukturelle Darstellung, Kennzeichnung und Technikentwicklung in der Biologie, in der Energie und in den Materialkundeanwendungen unter Verwendung der Atomkraftmikroskopie und der in Verbindung stehenden Techniken
Investigations of samples by means of confocal, fluorescence and spectroscopy, photoacoustic methods and industrial CT, surface characterization and manipulation using atomic force microscopy (AFM).
Untersuchungen von Proben mittels Konfokal-, Fluoreszenz- und Spektroskopie, photoakustischer Methoden und industrieller CT, Oberflächencharakterisierung und Manipulation mithilfe der Atomic Force Mikroskopie (AFM).
The investigation of the morphology was carried out using atomic force microscopy (AFM).
Die Untersuchung der Morphologie erfolgte mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM).
Adhesion force between silica microspheres of different sizes and different rough surfaces (silicon and diamond-like carbon (DLC)) is measured using atomic force microscopy (AFM).
In dieser Arbeit wurden mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie (AFM) Adhäsionskräfte zwischen unterschiedlich großen Siliziumdioxid-Mikrometer Kugeln und verschiedenen rauen Oberflächen (Silizium und Diamant-Kohlenstoff (DLC)) gemessen.
A team including physicists from the University of Basel has succeeded in using atomic force microscopy to clearly obtain images of individual impurity atoms in graphene ribbons.
Einem Team mit Physikern der Universität Basel ist es gelungen, einzelne Fremdatome in Graphenbändern mithilfe der Rasterkraftmikroskopie eindeutig abzubilden.
JPK Instruments, a world-leading manufacturer of nanoanalytic instrumentation for research in life sciences and soft matter, reports on the research studies of Dr Rikke Meyer who is looking into biofilm formation from bacteria using atomic force microscopy, AFM, and single-cell force spectroscopy.
JPK Instruments, einer der weltweit führenden Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten im Bereich Life Sciences und Soft Matter, berichtet über die Forschung von Dr. Rikke Meyer, welche mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Einzel- Zell-Kraft-Spektroskopie Biofilme aus Bakterien untersucht.
30-Jun-2020 Researchers at the Beckman Institute for Advanced Science and Technology have developed a new method to improve the detection ability of nanoscale chemical imaging using atomic force microscopy.
30.06.2020 Forscher am Beckman-Institut für fortgeschrittene Wissenschaft und Technologie haben eine neue Methode entwickelt, um die Detektionsfähigkeit der chemischen Bildgebung im Nanobereich mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie zu verbessern.
Scientists from the team led by Professor Ernst Meyer from the Swiss Nanoscience Institute and the University of Basel's Department of Physics examined these graphene ribbons using atomic force microscopy (AFM).
Die Wissenschaftler aus dem Team von Prof. Dr. Ernst Meyer vom Swiss Nanoscience Institute und dem Departement Physik der Universität Basel untersuchten diese Graphenbänder mithilfe eines Rasterkraftmikroskops (AFM).
Using atomic force microscopy, the researchers were able to observe enzymes at work on the surface of cellulose particles for the first time and provide direct evidence of their activity.
Mittels Rasterkraftmikroskopie konnten die Forschenden nun erstmalig die Enzyme bei ihrer aufspaltenden Arbeit an der Oberfläche der Cellulosepartikel beobachten und einen direkten Nachweis ihrer Aktivität erbringen.
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