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a scanning force microscope
Vertaling van "a scanning force microscope" in Frans
un microscope à forces atomiques
un microscope à force atomique
un microscope de force de lecture
This means is preferably a scanning force microscope that is integrated with the microwave resonator to form a single sensor element.
Ce moyen est de préférence un microscope à forces atomiques, intégré conjointement avec le résonateur à hyperfréquences en un seul et unique élément de détection.
interferometric data acquisition is disclosed for a scanning force microscope with a detector probe that detects with atomic resolution the surface structure of objects (reference number
la saisie de données par interférométrie est proposée pour un microscope à forces atomiques pourvu d'une sonde qui explore la structure superficielle d'objets (numéro de référence avec une résolution atomique
the invention relates to a device for measuring a respective deflection of multiple measuring beams uniformly disposed in a scanning probe microscope or a scanning force microscope, comprising
la présente invention concerne un dispositif de mesure d'une déviation respective de plusieurs barres de mesure disposées régulièrement dans un microscope à sonde locale ou un microscope à force atomique, comprenant
A scanning force microscope (1) is used for a measurement process in order to analyse the molecular bond to a probe molecule (5) of individual molecules which are in a solution.
Selon l'invention, on utilise un microscope à force atomique (1) pour un procédé de mesure destiné à analyser la liaison de molécules individuelles présentes dans une solution à une molécule-sonde (5),.
in a scanning force microscope, a thin film of a magnetic material is applied to the back surface of a force sensing cantilever
un microscope à forces atomiques dans lequel une couche mince d'un matériau magnétique est appliqué sur la surface dorsale du porte-à-faux de détection des forces
A process is disclosed for scanning a sample surface, in particular by means of the scanning probe of a scanning force microscope, in which the scanning point and the sample are moved with respect to each other.
Selon un procédé de balayage de la surface d'un échantillon, notamment au moyen de la sonde de balayage d'un microscope à forces atomiques, la pointe de balayage et l'échantillon se déplacent l'un par rapport à l'autre.
an optical sensor, in particular for a scanning force microscope, measures the deflection of a cantilever using an optical resonator between the cantilever and an output surface of a lens assembly
un capteur optique, destiné en particulier à un microscope à forces atomiques, ce capteur mesurant la déflexion d'un levier au moyen d'un résonateur optique situé entre ledit levier et une surface de sortie d'un ensemble lentille
in a scanning force microscope having a detector probe designed as a spiral spring, two laser beam interferometers are used, of which one measures the deflection of the spiral spring and the other measures the interference signal.
dans un microscope à forces atomiques dont la sonde détectrice est un ressort spiral, on utilise deux interféromètres à faisceau laser dont l'un mesure la déflexion du ressort spiral et l'autre mesure le signal d'interférence.
a scanning force microscope probe cantilever having a reflective structure
un cantilever de sonde de microscope à force atomique doté d'une structure réfléchissante
The invention relates to a scanning force microscope, which can be used for different examinations of the surfaces of samples.
L'invention concerne un microscope à force atomique à balayage qui peut être utilisé pour différentes analyses sur les surfaces d'échantillons.
the invention relates to a fluid cell for mounting in a scanning probe microscope, for example a scanning force microscope, or a force spectroscope, wherein the fluid cell comprises
l'invention concerne une cellule fluide pour le montage dans un microscope par sonde à balayage, par exemple un microscope de force à balayage, ou un spectroscope de force, la cellule fluide présentant
an apparatus and a process for determining resonant frequencies for a cantilever used to measure tip-to-sample distances on a scanning force microscope
un appareil et un procédé permettant de déterminer les fréquences de résonance pour un bras en porte-à-faux servant à mesurer des distances entre la pointe et l'échantillon reposant sur un microscope électronique à balayage
PFM applies an electric field through the probe tip of a scanning force microscope to measure the piezoelectric response - the reversible deformation in response to an electric field.
La PFM consiste à appliquer un champ électrique à l'extrémité de la sonde d'un microscope à effet de force, pour mesurer sa réponse piézoélectrique (une déformation réversible due au champ électrique).
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