We konden deze vermelding niet vinden. Er worden benaderende resultaten weergegeven. Controleer je spelling of stel voor deze term aan het woordenboek toe te voegen.
an event based test system which can generate scan vectors for testing a semiconductor device of scan design without requiring a large amount of scan memory
un système d'essai basé sur des événements pouvant générer des vecteurs de balayage en vue de tester un dispositif à semiconducteur de balayage d'essai ne nécessitant pas une grande quantité de mémoire de balayage
an event based test system for testing an IC device under test (DUT) designed under an automatic electronic design (EDA) environment
un système de test fondé sur des événements, pour tester un dispositif de circuit intégré à l'essai, conçu dans un environnement de conception électronique automatique
Potentieel gevoelige of ongepaste informatie
Er worden alleen voorbeelden gegeven om u te helpen het woord of de woordcombinatie waarop u hebt gezocht, te vertalen. Deze worden niet door ons geselecteerd of gevalideerd en kunnen ongepaste taal bevatten. Wij vragen u melding te maken van voorbeelden die dienen te worden aangepast of verwijderd. Vertalingen met grof of informeel taalgebruik worden meestal rood of oranje gemarkeerd.