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for testing a semiconductor device
Vertaling van "for testing a semiconductor device" in Frans
pour tester un dispositif à semi-conducteurs
a novel planarizing probe card for testing a semiconductor device is presented
la présente invention concerne une nouvelle carte sonde de planarisation pour tester un dispositif à semi-conducteurs
a testing apparatus is provided for testing a semiconductor device having a memory region
la présente invention concerne un appareil de test prévu pour tester un dispositif à semi-conducteurs ayant une zone de mémoire
A test apparatus for testing a semiconductor device includes a circuit board having a contact pattern on one side and an opening therethrough, and a probe card supporting a probe needle array.
Un appareil de test destiné à tester un dispositif à semi-conducteurs comprend une carte de circuit imprimé ayant un motif de contact sur un premier côté et une ouverture dans celle-ci, et une carte sonde soutenant un ensemble d'aiguilles de sonde.
Automatic test equipment is disclosed for testing a semiconductor device and including a computer workstation and pin electronics circuitry coupled between the semiconductor device and the computer.
L'invention concerne un équipement automatique d'essai permettant de tester un dispositif à semi-conducteur et comportant une station de travail informatique et un circuit électronique à broche de raccordement couplé entre le dispositif semi-conducteur et l'ordinateur.
whereby, a contactor for testing a semiconductor device with improved durability, wear resistance, and abrasion resistance, and a prolonged lifespan, can be obtained
ainsi, on peut obtenir un contacteur pour la vérification d'un dispositif à semi-conducteurs avec une durabilité, une résistance à l'usure, une résistance à l'abrasion, et une durée de vie prolongée
an event based test system which can generate scan vectors for testing a semiconductor device of scan design without requiring a large amount of scan memory
un système d'essai basé sur des événements pouvant générer des vecteurs de balayage en vue de tester un dispositif à semiconducteur de balayage d'essai ne nécessitant pas une grande quantité de mémoire de balayage
a method for testing a semiconductor device includes irradiating a transistor within the semiconductor device with a light beam, where the irradiating the transistor induces a current within the transistor, and, in response to the irradiating, detecting photon emission from the transistor
une méthode d'essai d'un semi-conducteur consistant à irradier un transistor placé dans le semi-conducteur par un faisceau lumineux, de manière à produire un courant dans le transistor, et à détecter en réponse une émission de photons du transistor
the semiconductor device test system includes a test header for testing a semiconductor device by a test controller
le système d'essai de dispositif à semi-conducteurs comprend un dispositif de tête d'essai destiné à soumettre un dispositif à semi-conducteurs à l'essai à l'aide d'un contrôleur d'essai
A method is provided for testing a semiconductor device that includes both a digital (310) and analog (320) portion.
L'invention concerne un procédé permettant de tester un dispositif semi-conducteur comprenant des parties aussi bien numérique (310) qu'analogique (320).
a semiconductor tester for testing a semiconductor device by generating pulses of different repetition periods to a DUT having ports of different periods (frequencies) without using plural timing memories holding timing sets
un testeur de semi-conducteur pour tester un dispositif semi-conducteur par envoi d'impulsions de différentes périodes de répétition à un dispositif à l'essai (DUT) comportant des accès de différentes périodes (fréquences), sans utiliser d'ensembles de temporisation dotés de mémoires de temporisation
the present invention provides a method and system for testing a semiconductor device under test (DUT), such as an IC, with the help of a tester
la présente invention concerne un procédé et un système de test d'un dispositif à semi-conducteur soumis à un test (DUT), tel qu'un circuit intégré, à l'aide d'un testeur
method for testing a semiconductor device and a semiconductor device testing system
méthode et système d'essai d'un semi-conducteur
Particularly the efficiency of management of a template program for testing a semiconductor device is improved A template program managing server (6) has a control unit (21) and a storage unit (22).
Un serveur de gestion de programme gabarit (6) possède une unité de commande (21) et une unité de stockage (22).
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