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generating a test pattern
Vertaling van "generating a test pattern" in Frans
générer un motif test
produire un motif de test
The test unit includes a data source for generating a test pattern of data.
Cette unité comprend une source de données produisant une séquence d'essai de données.
modulation means for generating a test pattern containing at least a first recording mark length
des moyens de modulation afin de générer un modèle de test contenant au moins une première longueur de marque d'enregistrement
Provided is a method for generating a test pattern such that the temperature of a semiconductor integrated circuit during testing is spaciously homogenized.
L'invention concerne un procédé de génération d'un motif de test, de telle sorte que la température d'un circuit intégré à semiconducteurs soit homogénéisée dans l'espace pendant le test.
the contact areas for the testing method are connected to the inputs of the driver circuit as well and are used for generating a test pattern.
ces surfaces de contact, qui sont ménagées pour ledit procédé d'essai, sont également reliées aux entrées du circuit d'excitation et servent à générer un motif de contrôle.
Each waveform control section generates set and reset pulses for generating a test pattern signal applied to the pins of the same attribute of the semiconductor devices under test to generate a test pattern signal.
Chaque partie de commande de forme d'ondes génère des impulsions de réglage et de réglage à nouveau destinées à générer un signal type d'essai appliqué aux broches du même attribut des dispositifs à semi-conducteur en cours d'essai, afin de générer un signal type d'essai.
there is provided a pattern generation device for generating a test pattern for performing a scan test of an electronic device
l'invention concerne un dispositif de production de motifs servant à produire un motif de test pour mettre en oeuvre un test série sur un dispositif électronique
a semiconductor testing apparatus is provided with a testing apparatus main body for generating a test pattern to be given to a semiconductor device
l'invention concerne un appareil d'essai à semi-conducteur pourvu d'un corps principal d'appareil d'essai permettant de générer un motif d'essai à donner à un dispositif semi-conducteur
in a preferred embodiment there is disclosed a method of generating a test pattern of data to be written to a data storage disk medium for testing
dans un mode de réalisation préféré, il est proposé un procédé pour générer un motif test de données à écrire sur un disque support de stockage de données pour un test
a pattern generation unit for sequentially reading and executing the orders stored in the order cache and generating a test pattern for the orders to be executed
une unité de génération de séquences destinée à lire et à exécuter séquentiellement les instructions mémorisées dans l'antémémoire d'instructions et à générer une séquence de tests pour les instructions à exécuter
a test device includes a pattern generator for generating a test pattern, a logic comparator for judging whether an electronic device is good or bad, and a fail memory for storing the judgment result of the logic comparator for each address of the electronic device
un dispositif d'essai comprenant un générateur de modèle destiné à générer un modèle d'essai, un comparateur logique destiné à évaluer un dispositif électronique, et une mémoire d'échec destinée à stocker le résultat de l'évaluation du comparateur logique pour chaque adresse du dispositif électronique
and a data spreading section for executing the instruction in the scan sequence data block so as to spread pattern data in the corresponding scan pattern data block, thereby generating a test pattern.
et une partie répartition de données pour exécuter l'instruction du bloc de données de séquence de balayage de manière à répartir les données de motif dans le bloc de données de motif de balayage correspondant, afin de produire un motif de test.
APPARATUS AND METHODS OF GENERATING A TEST PATTERN OF DATA, ANALYSING A TEST PATTERN OF DATA, AND TESTING A DATA STORAGE DISK MEDIUM AND/OR A READ/WRITE HEAD
APPAREIL ET PROCÉDÉS POUR GÉNÉRER UN MOTIF TEST DE DONNÉES, ANALYSER UN MOTIF TEST DE DONNÉES, ET TESTER UN DISQUE SUPPORT DE STOCKAGE DE DONNÉES ET/OU UNE TÊTE DE LECTURE/ÉCRITURE
Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
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