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scan testing
Vertaling van "scan testing" in Frans
test par balayage
test de balayage
test série
method for scan testing of digital circuit, digital circuit and program product
procédé de test par balayage d'un circuit numérique et d'un circuit numérique et d'un logiciel associés
Encrypting selection data corresponding to an intended function of the integrated circuit design avoids revealing the intended function as a result of the scan testing.
Le chiffrement de données de sélection correspondant à une fonction déterminée de la conception de circuit intégré permet d'éviter la restitution de la fonction déterminée en tant que résultat du test par balayage.
The delay in the scan path reduces the need for external buffers to avoid hold-time violations during scan testing of integrated circuits.
Le retard dans le trajet de balayage réduit le besoin de tampons externes pour éviter des violations de temps de rétention pendant un test de balayage de circuits intégrés.
There is also provided an associated method of performing at-speed scan testing of an integrated circuit.
La présente invention concerne en outre un procédé associé d'exécution de test de balayage à vitesse d'exploitation d'un circuit intégré.
According to the invention, a circuit that is capable of automated scan testing is disclosed.
L'invention concerne un circuit pouvant faire l'objet d'un test série automatisé.
the storage cell has low power consumption, facilitates scan testing and can be used by existing design tools and test equipment.
la cellule de mémoire a une faible consommation de puissance, facilite le test série et peut être utilisée par des outils de conception et des équipements de test existants.
encryption-based design obfuscation for an integrated circuit includes creating multiple functional circuit paths for an integrated circuit design and selecting among the multiple functional circuit paths during scan testing
l'obscurcissement de conception par chiffrement pour un circuit intégré consiste à créer de multiples parcours de circuit fonctionnels pour une conception de circuit intégré et à réaliser une sélection parmi les multiples parcours de circuit fonctionnels pendant le test par balayage
The control registers (231) and output registers are included in a scan test chain permitting them to be controlled and observed by normal scan testing methodologies.
Les registres d'instruction (231) et les registres de sortie sont compris dans une chaîne de tests série leur permettant d'être commandés et observés au moyen de techniques normales de test série.
LOW POWER SCAN TESTING TECHNIQUES AND APPARATUS
TECHNIQUES ET DISPOSITIF DE TEST PAR BALAYAGE À FAIBLE CONSOMMATION D'ÉNERGIE
METHOD AND CONTROL DEVICE FOR LAUNCH-OFF-SHIFT AT-SPEED SCAN TESTING
PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE COMMANDE DE TEST DE BALAYAGE À VITESSE NOMINALE ET À LANCEMENT HORS ROTATION
TEST STIMULI COMPRESSION AND TEST RESPONSE COMPACTION IN LOW-POWER SCAN TESTING
COMPRESSION DE STIMULI DE TEST ET COMPACTAGE DES RÉPONSES DE TEST DANS UN TEST PAR BALAYAGE À FAIBLE CONSOMMATION D'ÉNERGIE
a method and apparatus for scan testing dynamic circuits
procédé et appareil pour tester par balayage des circuits dynamiques
A printed circuit assembly, with a number of integrated circuits configured for boundary scan testing, includes a number of switches.
Une carte imprimée équipée, munie de plusieurs circuits intégrés destinés à des tests à la périphérie, comprend plusieurs commutateurs.
Synoniemen voor scan testing in het Engels
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