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scan-based
Vertaling van "scan-based" in Frans
à balayage
testé par balayage
par scan
à base de balayage
fondé sur le balayage
fondé sur un balayage mobile
specifying input constraint on the scan-based integrated circuit during a shift and capture operation
spécification des contraintes d'entrées sur le circuit intégré à balayage lors d'une opération de décalage et de capture
the scan-based integrated circuit containing a plurality of scan chains
ledit circuit intégré à balayage contenant une pluralité de chaînes de balayage
method and apparatus for broadcasting scan patterns in a scan-based integrated circuit
procédé et appareil permettant de diffuser des séquences de balayage dans un circuit intégré testé par balayage
a method and apparatus for testing or diagnosing faults in a scan-based integrated circuit using a unified self-test and scan-test technique
un procédé et un appareil permettant de tester ou de diagnostiquer des erreurs dans un circuit intégré testé par balayage à l'aide d'une technique d'autotest et de test par balayage
State-of-the-art countermeasures against scan-based attacks have been analyzed.
Nous avons analysé un état de l'art des contremesures contre les attaques par scan.
A scan attack consists in retrieving the secret key of a crypto-processor thanks to the observation of partially encrypted results.Experiments have been conducted during the project on the demonstrator board with the target TEE in order to analyze its security against a scan-based attack.
Une attaque par scan consiste à récupérer la clé secrète d'un crypto-processeur grâce à l'observation de résultats partiellement encryptés.Des expérimentations ont été conduites sur la carte électronique de démonstration avec le TEE afin d'analyser sa sécurité contre une attaque par scan.
smart capture for atpg (automatic test pattern generation) and fault simulation of scan-based integrated circuits
capture smart pour une production de modèle de test automatique (atpg) et simulation de défaillances de circuits intégrés à balayage
The scan-based integrated circuit contains multiple scan chains, each scan chain comprising multiple scan cells coupled in series.
Le circuit intégré à balayage contient de multiples chaînes de balayage, chaque chaîne de balayage comprenant de multiples cellules de balayage couplées en série.
method and apparatus for testing asynchronous set/reset faults in a scan-based integrated circuit
procédé et appareil de test de défaillances de mise à zéro/remise à zéro asynchrones dans un circuit intégré à balayage
Methods are further proposed to reorder scan cells in selected scan chains, to generate the broadcast scan patterns and virtual scan patterns, and synthesize the broadcaster and a compactor in the scan-based integrated circuit.
L'invention concerne également des procédés permettant de réordonner des cellules de balayage dans des chaînes de balayage sélectionnées, de générer des séquences de balayage diffusées et des séquences de balayage virtuel, et d'associer le diffuseur et un ordinateur dans le circuit intégré testé par balayage.
a method and apparatus to test data set/reset faults in a scan-based integrated circuit in a selected scan-test mode. or self-test mode
un procédé et un appareil de test de données et de défaillances de mise à zéro/remise à zéro d'un circuit intégré à balayage, dans un mode de test par balayage ou un mode de test automatique sélectionné
the system transmits virtual scan patterns stored in the ATE and generates broadcast scan pattern through the broadcaster for testing manufacturing faults in the scan-based integrated circuit
le système transmet des séquences de balayage virtuel stockées dans l'équipement ATE et génère une séquence de balayage diffusée par l'intermédiaire du diffuseur afin de tester les défauts de fabrication dans le circuit intégré testé par balayage
a broadcaster, system and method for reducing test data volume and test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit
un diffuseur, un système et un procédé permettant de réduire le volume de données de test et la durée d'application d'un test dans un équipement automatique de test (ATE) dans un circuit intégré testé par balayage
Synoniemen voor scan-based in het Engels
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Suggesties
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