a decompressor/PRPG on a microchip performs both pseudo-random test pattern generation and decompression of deterministic test patterns for a circuit-under-test on the chip
un décompresseur/PRPG (générateur de séquences de test pseudo-aléatoires) sur une micropuce réalise à la fois la génération de séquences de test pseudo-aléatoires et la décompression de séquences de test déterministiques d'un circuit en test sur la puce
cdma integrated circuit demodulator with build-in test pattern generation
The corresponding test pattern generation is done by analyzing both functionalities and structural implementation of network routers and links.
La génération des vecteurs de test a été alors faite en analysant les fonctionnalités et l'implémentation structurelle du routeur et de ses interconnexions.
network interface unit remote test pattern generation
Method and apparatus for test pattern generation
circuit cell for test pattern generation and test pattern compression
cellule de circuit pour la génération et la compression de motifs de test
smart capture for atpg (automatic test pattern generation) and fault simulation of scan-based integrated circuits
the central logic unit performs test pattern generation for all signal blocks on a given chip
Exemplary test pattern generation methods that can be used to generate test patterns for use with any of the disclosed embodiments are also disclosed.
L'invention concerne aussi des procédés de production de motifs de test exemplaires pouvant servir à produire des motifs de test utilisés avec une des formes de réalisation décrites.
Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.
De manière similaire, un outil de génération de séquence d'essai automatique peut utiliser les informations d'emplacement de défaut pour générer des données d'essai personnalisées pour vérifier des pannes correspondant au défaut identifié dans les parties spécifiées du microcircuit.
test pattern generation program and method, and display adjusting program using the test pattern
Similarly, as needed adaptive test pattern generation (520) methods are employed to result in enhanced diagnostic resolution.
De manière similaire, des procédés adaptatifs (520) de génération de modèle de test sont utilisés avec pour résultat une résolution de diagnostic améliorée.
the present invention is a scan test observation point system and method that enhances scan testing observability of integrated circuits (IC) with automatic test pattern generation (ATPG) tools
l'invention concerne un système et un procédé d'observation d'un point au moyen d'un test série, permettant une meilleure observation de circuits intégrés, au moyen d'un test série et à l'aide d'outils de génération automatique de vecteurs d'essai