Gesproken tekst vertalen, offlinefuncties, synoniemen, vervoegingen, educatieve spelletjes
Publiciteit
Registreer gratis: toegang tot meer resultaten en functies
the second test pattern
Vertaling van "the second test pattern" in Frans
la seconde mire
The output of the sensors when exposed to the first test pattern and the output of the sensors when exposed to the second test pattern are used to perform beam convergence calculations.
La sortie des détecteurs correspondant à une exposition à la première mire et la sortie des détecteurs correspondant à une exposition à la seconde mire servent à effectuer des calculs de convergence de faisceaux.
the second test pattern overlaps the entirety of the first uncovered area for each sensor, the portion of each sensor that is not overlapped, therefore being the first covered area for each sensor
la seconde mire chevauche la totalité de la première zone non couverte de chacun des détecteurs, la partie de chaque détecteur qui n'est pas qui n'est pas chevauchée par la seconde mire étant de ce fait la première zone couverte de chaque détecteur
The second test pattern is generated in the same plane as the first test pattern by an additional lighting means (8) which is only illuminated when the first lighting means is switched off.
La seconde mire est engendrée dans le même plan que la première mire par des moyens supplémentaires d'éclairage (8) qui sont uniquement allumés lorsque les premiers moyens d'éclairage sont éteints.
The individual then compares the second test pattern, as perceived by him, with a predefined reference pattern.
Le sujet compare ensuite le deuxième motif test, tel qu'il le perçoit, avec un motif de référence prédéfini.
is produced, in which pattern the printed dots are arranged at different locations in comparison with the first test pattern, and the area coverage of the second test pattern is measured,-the ratio of the area coverages of the first and second test patterns
dans lequel les points d'impression sont disposés à des endroits différents en comparaison avec le premier modèle d'essai, et l'indice de couverture de ce second modèle d'essai est mesuré,-le rapport des indices de couverture du premier et du second modèle d'essai
pattern to LOW so that a difference always occurs in a potential contrast image when any difference of the logic exists between acceptable and defective chips by the acquisition of the image data at the second test pattern
sur BAS de manière à ce qu'une différence apparaisse toujours dans l'image de contraste des potentiels chaque fois qu'il existe une différence de logique entre les puces acceptables et défectueuses, ceci grâce à l'acquisition des données d'image lors du second diagramme de test
Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
Resultaten: 6. Exact: 6. Verstreken tijd: 70 ms.
