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the test system controller

Vertaling van "the test system controller" in Frans

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la commande du système de test
le gestionnaire du système de vérification
le contrôleur de système de test
The emitter follower transistor and bypass resistor can be provided on the probe card, with a pull down termination circuit included in the test system controller.
Le transistor d'émetteur-suiveur et la résistance de dérivation peuvent être disposés sur la carte sonde, un circuit de terminaison d'excursion basse étant inclus dans le contrôleur de système de test.
The actual source of the fault once it is repaired is also stored by the test system controller (132).
La source effective de défaillance, une fois réparée, est également enregistrée dans le gestionnaire du système de vérification (132).
The test system controller can provide compensation for the base to emitter voltage drop of the emitter follower transistor.
Le contrôleur de système de test peut fournir une compensation pour la baisse de tension base-émetteur du transistor d'émetteur-suiveur.
The test system controller (132) stores data about operating parameters of each of the subscriber lines (108) when they are believed to be free of faults.
Le gestionnaire du système de vérification (132) stocke des données relatives aux paramètres de fonctionnement de chacune des lignes d'abonné (108) lorsqu'elles sont sensées être exemptes de défaillances.
The test system controller is programmed to establish communication channels with the remote measurement units, thereby enabling the test system controller to control the remote units and to analyze parameters measured by the remote units.
La commande du système de test est programmée afin d'établir des canaux de communication avec les unités de mesure à distance, ce qui permet à la commande du système de test de gérer les unités à distance et d'analyser les paramètres qu'elles ont mesurés.
A diagnostic interface on a wafer probe card is provided to enable monitoring of test signals provided between the test system controller and one or more DUTs on a wafer during wafer testing.
Interface de diagnostic sur une carte à pointes de testeur, qui permet la surveillance de signaux de test produits entre le dispositif de commande de système de test et un ou plusieurs dispositifs à tester situés sur une tranche pendant le test de ladite tranche.
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Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
chop: small piece of meat with a rib
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