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using a scanning probe microscope
Vertaling van "using a scanning probe microscope" in Frans
par microscopie à sonde locale
au moyen d'un microscope-sonde à balayage
The invention relates to a method and to a device for examining a test sample using a scanning probe microscope.
L'invention concerne un procédé et un dispositif d'examen par microscopie à sonde locale d'un échantillon.
METHOD FOR EXAMINING A TEST SAMPLE USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT SYSTEM AND A MEASURING SENSOR SYSTEM
PROCÉDÉ D'EXAMEN D'UN ÉCHANTILLON PAR MICROSCOPIE À SONDE LOCALE, SYSTÈME DE MESURE ET SYSTÈME DE SONDES DE MESURE
using a scanning probe microscope for determining a three-dimensional contour
avec un microscope à sonde à balayage afin de déterminer un contour en trois dimensions
measurement method for characteristics of a near-surface magnetic field using a scanning probe microscope relates to scanning probe microscopy
le procédé de mesure des caractéristiques d'un champ magnétique proche de la surface au moyen d'un microscope-sonde à balayage relève de la microscopie à sonde à balayage
Methods and apparatuses are described for adaptive! y tracking a feature (100) of a sample using a scanning probe microscope (10).
La présente invention porte sur des procédés et sur des appareils pour suivi adaptatif d'une caractéristique (100) d'un échantillon utilisant un microscope-sonde à balayage (10).
The invention relates to a method for operating a measurement system containing a scanning probe microscope, in particular an atomic force microscope, and to a measurement system for examining a measurement sample using a scanning probe microscope and for optically examining said sample.
L'invention concerne un procédé d'utilisation d'un système de mesure comprenant un microscope à sonde à balayage, notamment un microscope à force de balayage ainsi qu'un système de mesure pour l'examen microscopique à sonde à balayage et optique d'un échantillon.
improved tip-patterned atomic layer deposition (ALD) is provided by using a scanning probe microscope (SPM) tip to define an oxide pattern in a self-assembled monolayer deposited on a substrate
l'invention porte sur un dépôt amélioré d'une couche atomique (ALD) à motifs créés par la pointe d'un microscope à effet tunnel (SPM) pour définir un motif d'oxyde dans une monocouche autoassemblée déposée sur un substrat
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