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each memory block
Vertaling van "each memory block" in Japans
各メモリブロック
In each memory block, a selector signal line is provided in parallel with each word line.
各メモリブロックではセレクタ信号線が各ワード線に一つずつ並置されている。
In each memory block, the word line selecting signal line once selected is unselected till the access demand is received, so that the word line selecting signal line can be less frequently unselected and selected.
各メモリブロックにおいて、一度選択されたワード線選択信号線は、アクセス要求を受けるまで非選択されないため、ワード線選択信号線の非選択および選択の頻度を下げることができる。
Memtest 86+ writes information to each memory block, and then reads it and checks for errors.
MemTest 86+は各メモリブロックに情報を書き込み、それを読み取り、エラーをチェックします。
Each memory block (11) constitutes a flexible variable logical cell.
各メモリブロック（１１）は、フレキシブルな可変論理セルを構成する。
Each memory block can be written 8 times.
各メモリブロックは8回の書込みが可能です。
Each memory block has word line groups composed of at least one word line, memory cells, and bit lines.
各メモリブロックは、少なくとも１本のワード線で構成されたワード線グループ、メモリセルおよびビット線を有する。
Provided is a test device for testing a memory under test which assembles repair memory blocks in the row direction and memory blocks in the column direction and has at least one repair memory block in the column direction provided to enable replacement, wherein the test device is comprised of a testing unit which sequentially tests the memory under test and sequentially outputs the test result indicating a good or bad block under test; a first counter which sequentially counts the number of bad memory blocks, which is the number of memory blocks determined to be bad included in the other memory blocks, for each memory block in the row direction or the column direction; a selection unit which selects only the number of memory blocks, which have a bad memory block count exceeding a standard value, less than the number of other repair memory blocks in the memory under test; and a test control unit which masks the block under test included in the memory block selected by the selector and further tests the memory under test in the testing unit.
ロウ方向のリペア用メモリブロックおよびカラム方向のメモリブロックを一括して置換可能に設けられたカラム方向のリペア用メモリブロックをそれぞれ１以上有する被試験メモリを試験する試験装置であって、被試験メモリを順次試験して試験対象ブロックが不良か否かを示す試験結果を順次出力する試験部と、ロウ方向またはカラム方向の一方のメモリブロック毎に、他方のメモリブロックに含まれる不良判定されたメモリブロックの数である不良メモリブロック数を順次カウントする第１カウント部と、基準値を超える不良メモリブロック数がカウントされたメモリブロックを、被試験メモリが有する他方のリペア用メモリブロックの数以下の数だけ選択する選択部と、選択部が選択したメモリブロックに含まれる試験対象ブロックをマスクして、試験部に被試験メモリを更に試験させる試験制御部とを備える試験装置を提供する。
Each memory block stores truth value table data in the memory cells to output desired logic values in response to inputs of predetermined addresses and is arranged to operate as a logic circuit.
そして、それぞれの前記メモリセルブロックは、所定のアドレス入力に対して所望の論理値を出力するための真理値表データをそのメモリセルに記憶し、論理回路として動作するように構成されている。
Synoniemen voor each memory block in het Engels
Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
Resultaten: 8. Exact: 8. Verstreken tijd: 18 ms.
