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semiconductor testing device
Vertaling van "semiconductor testing device" in Japans
半導体試験装置
Provided is a semiconductor testing device having testing units for testing devices under test and serial transmission units for transmitting data to a control unit which controls the testing units.
被試験デバイスを試験する試験ユニットと、試験ユニットを制御する制御部との間で伝送データを伝送するシリアル伝送部を有する半導体試験装置を提供する。
Aiming to develop environmentally-sound products/ CX0050 We started developing the CX0050 with the goal of making it familiar and simple even for customers who had never used a semiconductor testing device before.
環境にやさしい製品の開発を目指して/ CX0050 CX0050は、今まで半導体試験装置を扱ったことのないお客様に対しても、より身近 に、より簡単に使 用していただけることを目指して開発をスタートしました。
CURRENT-LIMITING VOLTAGE GENERATOR, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
電流制限付き電圧発生器および半導体試験装置
Provided are a semiconductor testing device capable of realizing a high-speed delay test, a semiconductor device, and a testing method.
高速な遅延テストを実現することが可能な半導体テスト装置、半導体装置および試験方法を提供する。
With the agreements, a global automobile fuel pump manufacturer will invest USD 35 million to build a fuel pump plant, and a semiconductor testing device maker will relocate its R&D center which amounts to USD seven million.
Advantest Corporation, a semiconductor testing device manufacturer, will make an investment of USD seven million to establish a R&D center of 660 m2 by 2015 to develop new products such as memory handlers and system-on-chip handlers.
半導体デバイスメーカーのアドバンテストはメモリハンドラー、Socハンドラー、デバイスインタフェース及び検査カードなどの新製品を研究する研究開発（R&D）センターを天安第3産業団地の拡張団地に設立する。
PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING PROBE SHEET OR PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE PRODUCING METHOD
プローブカード及びプローブシートまたはプローブカードを用いた半導体検査装置および半導体装置の製造方法
The gradation variance determination circuit (33) determines whether or not the generated gradation voltage value falls within a permissible range for the variance relative to a reference voltage value supplied from an external semiconductor testing device (tester) (32), and the determination result is output to the semiconductor testing device (32).
被テストデバイスである半導体装置３０は、液晶ドライバ２０のほか、テスト制御回路３１、階調ばらつき判定回路３３、及び、出力切替スイッチ３４を備え、被テストデバイスである半導体装置３０自身が、テスト用制御信号、及び、テスト用クロック信号に基づき、テスト用の階調電圧を生成するとともに、生成した階調電圧値が外部の半導体試験装置（テスタ）３２から供給される基準電圧値に対してばらつきが許容範囲に収まっているか否かを階調ばらつき判定回路３３が判定し、その判定結果を半導体試験装置３２に出力する。
Synoniemen voor semiconductor testing device in het Engels
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