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test pattern memory
Vertaling van "test pattern memory" in Japans
試験パターンメモリ
テストパターンメモリ
Said test cells are equipped with: a test pattern memory that temporarily holds a test pattern; a driver that transmits a test signal to the test item according to said test pattern; a comparator that compares the output signal from the test item and the expected value corresponding to said test pattern and derives test results; and a test result memory for temporarily holding said test results.
前記検査セルは、テストパターンを一時的に保持するテストパターンメモリと、前記テストパターンに従って、被検査体に検査信号を送信するドライバと、被検査体からの出力信号と前記テストパターンに対応する期待値とを比較してテスト結果を導出するコンパレータと、前記テスト結果を一時的に保持するテスト結果メモリと、を備える。
Between the respective test cells, a test pattern wire is provided for transmitting said test pattern from the test pattern memory of the test cell on the upstream side to the test pattern memory of the test cell on the downstream side in the testing order for the test items.
前記各検査セル間には、被検査体の検査順に上流側の前記検査セルのテストパターンメモリから下流側の前記検査セルのテストパターンメモリに前記テストパターンを送信するためのテストパターン用配線が設けられている。
A tester for testing a device under test comprising an instruction executing section for sequentially executing the instructions included in a test program of the device for each instruction cycle, a test pattern memory storing pattern length identification information for identifying the pattern length of a test pattern sequence outputted during an instruction cycle period of time during which the instructions are executed and the test pattern sequence after associating the information with each instruction, a test pattern memory read section for reading, from the test pattern memory, a test pattern sequence having a length corresponding to the pattern length identification information stored in the test pattern memory and associated with one instruction to be executed, and a test pattern output section for outputting, to a terminal of the device, the test pattern sequence read by the test pattern memory read section according to the one instruction during the instruction cycle period of time during which the one instruction is executed.
被試験デバイスを試験する試験装置は、命令サイクル毎に、被試験デバイスの試験プログラムに含まれる命令を順次実行する命令実行部と、各命令に対応付けて、当該命令を実行する命令サイクル期間中に出力する試験パターン列のパターン長を識別するパターン長識別情報、及び、当該試験パターン列を格納する試験パターンメモリと、一の命令を実行する場合において、一の命令に対応付けて試験パターンメモリに格納されたパターン長識別情報に対応する長さの試験パターン列を、試験パターンメモリから読み出す試験パターンメモリ読出部と、一の命令を実行する命令サイクル期間中に、一の命令に対応して試験パターンメモリ読出部が読み出した試験パターン列を、被試験デバイスの端子に対して出力する試験パターン出力部とを備える。
A test instrument comprising an instruction executing section for sequentially executing instructions contained an a test program, a predetermined pattern memory where a predetermined pattern series is stored in association with predetermined pattern identification information, a test pattern memory where a test pattern series outputted during an instruction cycle period or the predetermined pattern identification information for identifying a predetermined pattern series outputted during the instruction cycle period is stored in association with each instruction, a test pattern memory reading section for reading the test pattern series or the predetermined pattern identification information stored in the test pattern memory in association with one instruction, a predetermined pattern reading section for reading the predetermined pattern series associated with the predetermined pattern identification information when the predetermined pattern identification information is read, and a test pattern output section for outputting the test pattern series read by the test pattern memory reading section or the predetermined pattern series read by the predetermined pattern reading section to a terminal of the device under test during an instruction cycle period.
試験プログラムに含まれる命令を順次実行する命令実行部と、既定パターン列を、既定パターン識別情報に対応付けて格納する既定パターンメモリと、各命令に対応付けて、命令サイクル期間中に出力する試験パターン列、又は、当該命令サイクル期間中に出力する既定パターン列を識別する既定パターン識別情報を格納する試験パターンメモリと、一の命令に対応付けて試験パターンメモリに格納された試験パターン列又は既定パターン識別情報を読み出す試験パターンメモリ読出部と、既定パターン識別情報を読み出した場合に、当該既定パターン識別情報に対応付けられた既定パターン列を読み出す既定パターン読出部と、命令サイクル期間中に、試験パターンメモリ読出部が読み出した試験パターン列、又は、既定パターン読出部が読み出した既定パターン列を被試験デバイスの端子に対して出力する試験パターン出力部とを備える試験装置を提供する。
Synoniemen voor test pattern memory in het Engels
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Afbeelding van de dag
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