Examples with "interference microscope" and their translation in Koreaans
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Non-contact type 3D shape measurement are various types like optical triangulation, moire, white light scanning interferometer, and Differential Interference Contrast Microscope
비 접촉식 3차원 형상측정은 광학적 측정 방법인 광 삼각법, 모아레, 백색광간섭계, 공초점 주사 현미경 등이 있습니다.
Coverslips were mounted onto glass slides and expression of GFP in the cells was observed by fluorescence microscope Differential interference contrast (DIC) and fluorescence images acquired using Olympus BX61 microscope and digital images were processed with Image J software.
Coverslips는 유리 슬라이드에 탑재되었으며 세포에 GFP의 형광 현미경 표현식에 의해 관찰되었다. 차동 간섭 대비 (DIC) 및 형광 이미지는 이미지 J 소프트웨어로 처리되었습니다 올림푸스 BX61 현미경 및 디지털 이미지를 사용하여 인수했다.
The microscope can also be equipped with auxiliary devices that provide viewing methods such as brightfield, darkfield, differential interference phase contrast, and polarization to suit various needs.
현미경은 또한 Brightfield, Darkfield, 미분 간섭 위상차 및 편광과 같은 관찰 방법을 제공하는 보조 장치를 다양한 요구에 맞게 장착 할 수 있습니다.
BS-6060 metallurgical optical microscope Nomarski differential interference contrast system - quality Metallurgical Microscope for sale
BS-6060 야금술 광학적인 현미경 Nomarski 차별 방해 대조 체계 - 품질 금속 현미경 판매
BS-6060 metallurgical optical microscope Nomarski differential interference contrast system BS-6060 Series Metallurgical Microscope Introduction BS-6060 series metallurgical microscopes are developed for... Read More
BS-6060 야금술 광학적인 현미경 Nomarski 차별 방해 대조 체계 BS-6060 시리즈 야금술 현미경 소개 BS-6060 시리즈 야금술 현미경은 외관에 있는 다수 개척 디자인을 가진 연구를 위해 발육되고 기능, 넓은 시계, 높은 정의 및 밝은&암시야 반 아... 자세히보기
Realistic Surface Reproduction, Laser DIC (Differential Interference Contrast)Â Differential Interference Contrast (DIC) is an observation method used to visualize nanometer micro surface contours, which normally lie far beyond the resolving power of a laser microscope.
미분 간섭 관찰(DIC)은 레이저 현미경의 분해능을 더 넘어선, 나노 미터 수준의 미세한 표면을 시각화하는 관찰 방법입니다. 이 레이저 DIC에 의해 OLS4100은 저배율의 라이브 관찰에서도 전자 현미경의 분해능과 같은 이미지를 얻을 수 있습니다.
The AL120 interfaces with the Olympus MX series of dedicated wafer inspection microscopes that provide exceptional image resolution and clarity through a wide range of observation methods including brightfield, darkfield, differential interference contrast (DIC), near-IR (near-infrared) and DUV (deep ultraviolet).
강력하고 신뢰성 있는 현미경 플랫폼 AL120은 명시야, 암시야, 미분 간섭, 근적외선과 DUV(Deep Ultraviolet)의 관찰 방법을 통해 뛰어난 이미지 해상도와 선명도를 제공하는 웨이퍼 검사 전용 현미경 OLYMPUS MX 시리즈와 호환되서 사용가능합니다.
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Synoniemen voor interference microscope in het Engels