The atomic force microscope works by measuring the electrostatic force between the tip and the specimen.
De atoomkrachtmicroscoop werkt door de elektrostatische kracht tussen het uiteinde en het specimen te meten.
Examinations with the atomic force microscope also showed that the stronger that the individual fibers are charged electrically, the smoother the film becomes.
Uit onderzoek met de atoomkrachtmicroscoop bleek ook dat hoe sterker de elektrische lading van de afzonderlijke vezels is, hoe gladder de film wordt.
The atomic force microscope (AFM) is mostly known for its imaging capabilities, but it is also a very sensitive tool for quantitatively measuring forces on a single molecule level.
De atoomkrachtmicroscoop (AFM) is meestal gekend voor zijn weergavemogelijkheden, maar het is ook een zeer gevoelig hulpmiddel om krachten op één enkel moleculeniveau kwantitatief te meten.
Particularly the problem of handling and/or assembly of nano-structures using a haptic interface between the operator and an atomic force microscope will be considered.
Speciaal het probleem van het behandelen en/of moteren van nanostructuren met behulp van een haptische interface (eventueel via het Internet) tussen de operator en een atoomkrachtmicroscoop zal aangepakt worden.
Working in scanning probe microscopy (SPM), a researcher may start with a basic system such as an atomic force microscope.
Werkend in de microscopie van de aftastensonde (SPM), kan een onderzoeker met een basissysteem zoals een atoomkrachtmicroscoop beginnen.
The spatial resolution breakthrough is obtained through a novel method that uses a nanoscale probe from an atomic force microscope (AFM) that acts as the IR absorbance detector.
De ruimteresolutiedoorbraak wordt verkregen door een nieuwe methode die een nanoscalesonde van een atoomkrachtmicroscoop gebruikt (AFM) die als de absorberingsdetector van IRL dienst doet.
NIST software simulates the tip of an atomic force microscope moving left across a stack of four sheets of graphene.
De software NIST simuleert het uiteinde van een atoomkrachtmicroscoop die zich links over een stapel van vier bladen van graphene beweegt.
The CIC nanoGUNE researchers have managed to increase the spatial resolution of this technique by using the metallic point of an atomic force microscope as an antenna to concentrate the infrared radiation on an extremely small area, achieving resolutions smaller than 20 nanometres.
De CIC nanoGUNE onderzoekers zijn erin geslaagd om de ruimteresolutie van deze techniek te verhogen door het metaalpunt van een atoomkrachtmicroscoop als antenne te gebruiken om de infrarode straling op een uiterst klein gebied te concentreren, bereikend resoluties kleiner dan 20 nanometres.
A typical SGM experiment uses a charged tip of the atomic force microscope (AFM) to perturb electron motion.
In een typisch SGM experiment wordt met een geladen tip van een atoomkrachtmicroscoop (AFM) de beweging van de elektronen beïnvloed.
The fully integrated combination of atomic force microscope and inverted light microscope capabilities afforded by the Keysight 6000ILM AFM recently enabled an easy and quick investigation of the distribution of cell membrane proteins at the micrometer and nanometer scales.
De volledig geïntegreerde combinatie atoomkrachtmicroscoop en omgekeerde lichte microscoopmogelijkheden die door Keysight 6000ILM AFM wordt veroorloofd liet onlangs een gemakkelijk en snel onderzoek van de distributie van de proteïnen van het celmembraan bij de micrometer en nanometerschalen toe.
Combine inVia with a scanning probe microscope (SPM), such as an atomic force microscope (AFM), to investigate the chemical and structural properties of materials.
Combineer de inVia met een scantastermicroscoop (SPM), zoals een atoomkrachtmicroscoop (AFM), om de chemische en structurele eigenschappen van materialen te onderzoeken.
On the basis of X-ray investigations at DESY's research light source PETRA III, investigations with an atomic force microscope and investigations using neutron scattering, the scientists were able to show exactly how the layer is structured.
Aan de hand van röntgenonderzoek bij DESY's lichtbron PETRA III, onderzoek met een atoomkrachtmicroscoop en onderzoek op basis van neutronenverstrooiing, konden de wetenschappers precies laten zien hoe de laag is opgebouwd.
The paper address a molecular mapping challenge using the exciting technique of AFM-IR, the combination of an atomic force microscope (AFM) and IR spectroscopy.
Het document richt een moleculaire afbeeldingsuitdaging gebruikend de opwindende techniek van afm-IRL, de combinatie van een atoomkrachtmicroscoop (AFM) en de spectroscopie van IRL.