Examples with "In-Circuit-Debugging Probes" and their translation in Engels
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Das Angebotsportfolio an In-Circuit-Debugging Probes wird bald durch weitere Produkte ausgebaut, mit dem Ziel den Arbeitsablauf in der Entwicklung einfacher, nahtloser und auch flexibler zu gestalten.
This premiere launch will be followed by others in a new product portfolio of in-circuit debugging probes, targeted for simplified, seamless and more flexible development workflows.
I-jet Trace ist ein neuer wichtiger Baustein in IAR Systems' Angebot an In-Circuit-Debugging Probes.
Außerdem bietet IAR Systems eine Reihe von integrierten In-Circuit Debugging-Probes für einfache, nahtlose und flexiblere Entwicklungsabläufe.
IAR Systems also provides a range of integrated in-circuit debugging probes targeted for simplified, seamless and more flexible development workflows.
Eine perfekte Ergänzung hierzu bildet auch die neue In-Circuit-Debugging Probe I-jet von IAR Systems, die vollständig in die IAR Embedded Workbench integriert ist und hochgenaue Strommessungen erlaubt.
IAR Systems also recently launched the in-circuit debugging probe I-jet that enables high-accuracy power measurements and is tightly integrated with IAR Embedded Workbench.
Leistungsfähige Add-ons und Integrationen, die ein vollständiges Portfolio an In-Circuit-Debugging-Probes sowie integrierte Werkzeuge für die statische Analyse und Laufzeit-Analyse enthalten, bieten zusätzliche Funktionen für die IAR Embedded Workbench.
Powerful add-ons and integrations, including a complete portfolio of in-circuit debugging probes as well as integrated tools for static analysis and runtime analysis, adds additional possibilities to IAR Embedded Workbench.
Entwickler, die Technologie nutzen, um ihre Anwendungen hinsichtlich Stromverbrauch zu testen und optimieren, erhalten mit der neuen leistungsstarken In-Circuit-Debugging Probe I-jet jetzt noch mehr Genauigkeit bei der Verbrauchsmessung.
For developers who make use of IAR Systems' innovative power debugging technology to test and tune their applications for power optimization, the launch of the new high-performing in-circuit debugging probe I-jet allows for even more refined power measurements.
Um ihnen in der Debugging-Phase die Arbeit zu erleichtern und ihre Effizienz zu verbessern, bietet IAR Systems für die IAR Embedded Workbench ein vollständiges Portfolio an In-Circuit-Debugging-Probes mit leistungsfähigen Debugging- und Trace-Funktionen für ARM.
To ease their workload and improve efficiency during the debugging phase, IAR Systems offers a complete portfolio of in-circuit debugging probes, unlocking powerful debugging and trace features in IAR Embedded Workbench for ARM.
Für ein verbessertes Debugging bietet IAR Systems auch eine Reihe von vollständig integrierten In-Circuit Debugging-Probes, die separat erhältlich sind: Der I-jet dient als besonders schnelle Debugging-Plattform und erlaubt eine extrem genaue Messung der Stromaufnahme des Zielgeräts.
For enhanced debug capabilities, IAR Systems also offers a range of fully integrated in-circuit debugging probes sold separately. I-jet provides an exceptionally fast debugging platform and has the capability of measuring target power consumption with a high degree of accuracy.
Mit der neuen In-Circuit-Debugging-Probe I-jet Trace für ARM Cortex-A/R/M eröffnet die Toolchain Entwicklern, die mit Prozessoren der ARM-Cortex-A-, Cortex-R- und Cortex-M-Familien arbeiten, neue Möglichkeiten, um umfassende Einblicke in das Verhalten einer Applikation zu gewinnen und schwer auffindbare Bugs einfacher zu erkennen.
With the new trace probe I-jet Trace for ARM Cortex-A/R/M, the toolchain gives developers working with devices in the ARM Cortex-A, Cortex-R or Cortex-M families new possibilities for unmatched insight into application behavior and easier detection of hard-to-find bugs.
Beide Kits beinhalten eine größenlimitierte Lizenz für die leistungsstarke Toolchain IAR Embedded Workbench und kann in Verbindung mit der In-Circuit Debugging-Probe I-jet von IAR Systems sowie anderen JTAG-Probes genutzt werden. Darüber hinaus sind Versionen mit IAR J-Link Lite USB-JTAG/SWD Debug-Probe erhältlich.
The kits include a size-limited license of the powerful toolchain IAR Embedded Workbench and can be used with IAR Systems' in-circuit debugging probe I-jet as well as other JTAG probes, and are also available in versions including an IAR J-Link Lite USB-JTAG/SWD debug probe.
Um seinen Kunden einen noch einfacheren und reibungsloseren Entwicklungs-Workflow zu sichern, hat IAR Systems 2011 das Unternehmen Signum Systems akquiriert und bietet nun ein Produktportfolio an vollständig integrierten In-Circuit-Debugging-Probes.
Recognizing the importance of providing simplified, seamless development workflows, IAR Systems purchased Signum Systems in 2011 and now offers a product portfolio of completely integrated in-circuit debugging probes.
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