Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, die ferner einen Testmustergenerator (614,815, 1117) umfasst, zum Generieren eines Testmusters und Eingeben des Testmusters zusammen mit der Schreibadresse in die Speichervorrichtung (621,821, 1121).
The semiconductor device of claim 1 or 2, further comprising a test pattern generator (614,815,1117) for generating a test pattern and inputting said test pattern together with said write address to said storage device (621,821,1121).
Verfahren zum Testen einer Halbleitervorrichtung nach Anspruch 9, ferner mit: Lesen eines Testmusters, das durch einen Testmustergenerator (614,815, 1117) über die Scankette generiert wurde.
The method for testing a semiconductor device of claim 9, further comprising: reading out a test pattern generated by a test pattern generator (614,815,1117) via said scan chain.
Testmustergenerator nach Anspruch 1, bei welchem das Steuermittel angepasst ist, um Anzeigestellen bzw. Anzeigeorte auszuwählen, bei denen eine bzw. einer vom nächsten um Pixel-Versetzungen versetzt sind, um so eine Bewegung des Vordergrundbildes entlang eines Pfades relativ zu dem Hintergrundbild zu simulieren.
A test pattern generator according to Claim 1, wherein said control means is adapted to select display locations displaced one from the next by pixel displacements such as to simulate movement of the foreground image along a path relative to the background image.
Testmustergenerator nach Anspruch 2, bei welchem das Steuermittel dem Bediener eine Auswahl eines NTSC-Telecine-Modus bzw. eines NTSC-Filmscanner-Modus ermöglicht, bei dem die Anzeigestelle bzw. der Anzeigeort sich mit alternierenden Intervallen von drei Feldern und zwei Feldern ändert.
A test pattern generator according to Claim 2, wherein said control means enables operator selection of an NTSC telecine mode in which the display location changes at alternating intervals of three fields and two fields.
Testmustergenerator nach Anspruch 6, bei welchem die Versetzungen um Unter-Pixel-Intervalle bzw. Intervalle, die kleiner als ein Pixel sind, variieren.
Testmustergenerator nach Anspruch 4, bei welchem der Pfad fortlaufend ist.
A test pattern generator according to Claim 4, wherein said path is continuous.
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Zum Durchführen eines internen Selbsttests der Vielzahl von logischen Gattern (2) ist eine Selbsttestschaltung (3) vorgesehen, die einen Testmustergenerator (4) und einen Testantwort-Analysator (5) aufweist.
A self-test circuit (3) is provided for conducting an internal self-test of the plurality of logic gates (2).
Anzeigesystem nach einem vorhergehenden Anspruch, wobei das Mittel, das während eines Kalibrierungsmodus arbeitet, um ein Testmuster zu erzeugen, einen Testmustergenerator (14) umfaßt, der einen Speicher (22) mit darin abgespeicherten das Testmuster repräsentierenden Daten aufweist.
A display system according to any preceding claim, wherein said means operable during a calibration mode for generating a test pattern includes a test pattern generator (14) including a memory (22) having stored therein data representing said test pattern.
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Andere resultaten
Verfahren nach Anspruch 1, das weiterhin die folgenden Schritte umfasst: Bildung erwarteter Abtastausgabedaten von der Netzliste unter Verwendung eines automatischen Testmustergenerators und der Bildung eines Pseudosignals, das Vergleichsunterschiede zwischen den angezeigten simulierten Scan-Flops und den erwarteten Abtastausgabedaten grafisch darstellt.
The method of claim 1, further comprising the steps of forming expected scan output data from the netlist using an automatic test pattern generator and forming a pseudo-signal graphically displaying miscompares between the displayed simulated scan flops and the expected scan output data.
Die Vorrichtung nach Anspruch 2, wobei der Periödenfeinabstimmungs-Testmustergenerator (320) so programmierbar ist, daß er Ereignisse in einer Masterperiode platziert.
Programmierbarer Video-Testmustergenerator für Anzeigesysteme.
