His speciality is innovative microscopic detection methods such as atomic force microscopy.
They verified the existence of a monolayer through atomic force microscopy.
This can be used for atomic force microscopy, infrared detection, and chemical sensing.
Method and apparatus for measuring electrical waveforms using atomic force microscopy
In addition, atomic force microscopy can also be applied.
Zusätzlich kann auch Rasterkraftmikroskopie zum Einsatz kommen.
By adopting atomic force microscopy, the project advanced its nanoscale resolution capabilities.
Durch die Einführung der Rasterkraftmikroskopie verbesserte das Projekt seine Fähigkeit zur Auflösung im Nanobereich.
It is very intuitive, once the working principle of atomic force microscopy is clear.
Es ist sehr intuitiv, wenn das Funktionsprinzip der Rasterkraftmikroskopie einmal klar ist.
Probemaster is a game changer in the world of atomic force microscopy.
Der Probemaster ist bahnbrechend in der Rasterkraftmikroskopie.
Surface topography of thin layers for chip fabrication using atomic force microscopy
Oberflächentopographie von Dünnfilmen für die Chip-Fertigung mittels Rasterkraftmikroskopie
Non-contact atomic force microscopy is exploited to unambiguously determine the structures at the interfaces.
Es wird eine berührungslose Atomkraftmikroskopie ausgenutzt, um die Strukturen an den Grenzflächen eindeutig zu bestimmen.
This means that the characterisation of viral structure requires high resolution imaging techniques, such as atomic force microscopy.
Dies heißt, dass die Kennzeichnung der Virenzelle Abbildungstechniken der hohen Auflösung benötigt, wie Atomkraftmikroskopie.
Speakers from leading research groups will describe their latest developments applying atomic force microscopy, force spectroscopy and optical tweezers techniques.
Lautsprecher von führenden Forschungsgruppen beschreiben ihre spätesten Entwicklungen, die Atomkraftmikroskopie, Kraftspektroskopie und optische Pinzettentechniken anwenden.
Point, line, area and layer thickness sensors as well as atomic force microscopy are combined in one measuring tool.
Punkt-, Linien-, Flächen- und Schichtdickensensoren sowie Rasterkraftmikroskopie sind vereint in einem Messgerät.