Prototype optical bench for an inter-satellite laser interferometer in the cleanroom.
The laser interferometer counts the interference of laser light.
Piezoelectric pin transducers, electrodynamic probes and laser interferometer are possible receivers.
Möglich sind zum Beispiel piezoelektrische Stiftwandler, elektrodynamische Aufnehmer und Laser-Interferometer.
The laser interferometer and laser collimator are used through the mechanical assembling process.
Das Laser-Interferometer und Laser-Kollimator werden durch den mechanischen zusammenbauenden Prozess benutzt.
The intensities at both exits of this laser interferometer are measured using photodiodes.
The stage laser interferometer is located behind a protective shield.
Das Laser-Interferometer der Bühne befindet sich hinter einer Schutzabdeckung.
Thanks to the inbuilt laser interferometer, measurements can be carried out rapidly and with high precision.
Dank des eingebauten LaserInterferometers können Messungen schnell und mit hoher Präzision durchgeführt werden.
The ultimate accuracy of a laser interferometer combined with the robustness needed for machine tool applications.
Die ultimative Genauigkeit eines Laserinterferometers kombiniert mit der für Werkzeugmaschinenanwendungen notwendigen Robustheit.
The sample displacement is measured with a laser interferometer and an additional capacitive displacement sensor.
Die Objektverschiebung wird mit einem Laserinterferometer und einem kapazitiven Wegsensor gemessen.
Just above the spindle, a laser interferometer is mounted, which detects the longitudinal position with very high accuracy.
Knapp oberhalb der Spindel ist ein Laserinterferometer montiert, welches die Längsposition mit sehr hoher Genauigkeit erfasst.
A laser interferometer forms for an electronic evaluation circuit a sinusoidal and a cosinusoidal input signal having a high dc component.
Ein Laser-Interferometer bildet für eine elektronische Auswerteschaltung ein sinusartiges und ein kosinusartiges Eingangssignal mit hohem Gleichspannungsanteil.
The invention relates to a method and a device for characterizing a sample by means of a double-beam laser interferometer.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung für die Charakterisierung einer Probe mittels eines Doppelstrahl - Laserinterferometers.
Portions of the control movement of the photolithography system of an illuminating laser across a semiconductor wafer surface may be controlled by a laser interferometer.
Abschnitte der Steuerbewegung des Fotolithografiesystems eines illuminierenden Lasers über eine Halbleiterwaferfläche können durch ein Laserinterferometer gesteuert werden.