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A method of testing a signal processing component according to any preceding claim wherein the input signal is a synchronisation frame.
Verfahren zum Prüfen einer Signalverarbeitungskomponente gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das Eingabesignal ein Synchronisationsrahmen ist.
Apparatus for and method of testing of semiconductor components.
Einrichtung und Verfahren zum Testen von Halbleiterkomponenten.
Probe card and method of testing wafer having a plurality of semiconductor devices
Sondenkarte und Verfahren zur Prüfung einer Halbleiterscheibe mit einer Vielzahl von Halbleitervorrichtungen
Electrochemical method of testing for surface-characteristics, and testing apparatus for use in the method.
Elektrochemisches Verfahren zur Prüfung von Oberflächeneigenschaften und Prüfvorrichtung zur Ausführung dieses Verfahrens.
An apparatus and method of testing optical networks using router modules
Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung Optischen Netze mit Leitweglenkungsmodulen
Programmable device and method of testing programmable device.
Programmierbares Gerät und Verfahren zur Prüfung eines programmierbaren Geräts.
Test apparatus and method of testing documents in processing machines
Prüfanordnungen und Verfahren zur Prüfung von Dokumenten in Bearbeitungsmaschinen
Surface mounting electronic module and method of testing the same
Elektronischer Baustein für Oberflächenbestückung und Verfahren zur Prüfung desselben
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