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einer Probenoberfläche
Reflectance measurements can identify the color and the texture of a sample surface as well as examine differences between objects for sorting or quality control.
Reflexionsmessungen können die Farbe und Textur einer Probenoberfläche identifizieren und für die Sortierung und Qualitätskontrolle Differenzen zwischen Objekten deutlich machen.
It is thus possible, for example, to evaluate the homogeneity of the cleaning of a sample surface in one single measuring procedure without any user intervention.
So lässt sich zum Beispiel die Homogenität der Reinigung einer Probenfläche in einem einzigen Messablauf ohne Benutzereingriffe ermitteln.
The depth of field states the depth of a sample surface which can be displayed sharply in a recording.
Die Schärfentiefe gibt den Tiefenbereich einer Probenoberfläche an, der in einer Aufnahme scharf abgebildet werden kann.
The invention relates to a combined method, according to which a high-resolution reproduction of a sample surface is registered using scanning force microscopy and a locally highly resolved chemical nature of the sample surface, said nature being correlated with the reproduction, is measured using mass spectroscopy.
Die Erfindung betrifft ein kombiniertes Verfahren, bei dem eine hochaufgelöste Abbildung einer Probenoberfläche mittels der Rasterkraftmikroskopie erfaßt wird und eine hierzu korrelierte, örtlich hochaufgelöste, chemische Natur der Probenoberfläche mittels der Massenspektroskopie gemessen wird.
A surface analysis apparatus according to claim 52, further comprising display means for displaying both the pattern coordinate data and an observed picture of a sample surface area including said location to be analyzed.
Vorrichtung zur Oberflächenanalyse nach Anspruch 52 mit einer Anzeigeeinrichtung, die sowohl die Daten der Musterkoordinaten als auch das beobachtete Bild eines groben Oberflächenbereichs einschließlich der zu analysierenden Stelle anzeigt.
The invention relates to a method for creating the image of a sample surface to be analysed, with a resolution which is better than 1vm laterally in relation to the sample surface and better than 100 nm vertically in relation to said surface.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung der Abbildung einer zu untersuchenden Probenoberfläche mit einer Auflösung die lateral zur Probenoberfläche besser als 1 vm und vertikal zur Oberfläche besser als 100 nm ist.
EFM images contain information about electric properties such as the surface potential and charge distribution of a sample surface.
EFM-Bilder enthalten Informationen über elektrische Eigenschaften wie das Oberflächenpotential und die Ladungsverteilung einer Beispieloberfläche.
When the tip is brought into proximity of a sample surface, forces between the tip and the sample lead to a deflection of the cantilever according to Hooke's law.
Diese Verbiegung bzw. Auslenkung der Spitze kann mit kapazitiven oder typischerweise optischen Sensoren gemessen werden und ist ein Maß für zwischen der Spitze und der Oberfläche wirkende atomare Kräfte.
METHOD AND APPARATUS FOR PARAMETER DIFFERENCE IMAGING OF A SAMPLE SURFACE
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM ABBILDEN DER PARAMETERDIFFERENZ EINER PROBENOBERFLÄCHE
METHOD AND DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY DETERMINING THE ADHESION, FRICTION, AND OTHER MATERIAL PROPERTIES OF A SAMPLE SURFACE
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR GLEICHZEITIGEN BESTIMMUNG DER ADHÄSION, DER REIBUNG UND WEITERER MATERIALEIGENSCHAFTEN EINER PROBENOBERFLÄCHE
METHOD FOR DETERMINING TRIBOLOGICAL PROPERTIES OF A SAMPLE SURFACE USING A SCANNING MICROSCOPE (SEM) AND ASSOCIATED SCANNING MICROSCOPE
VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG TRIBOLOGISCHER EIGENSCHAFTEN EINER PROBENOBERFLÄCHE MITTELS EINES RASTERKRAFTMIKROSKOPS (RKM) SOWIE EIN DIESBEZÜGLICHES RKM
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