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des Testmusters
dem das Testmuster
dem der Testmusterausbildungsabschnitt
die Testmuster-Erzeugungsschaltung
The system as recited in claim 9, wherein said central logic unit coordinates generation of said test pattern.
System nach Anspruch 9, wobei die zentrale Logikeinheit die Erzeugung des Testmusters koordiniert.
A method according to claim 1, wherein writing said test pattern (301) is performed in units of sector.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Schreiben des Testmusters (301) in Sektoreinheiten erfolgt.
A method as claimed in any of claims 21 to 23 wherein the ascertaining step comprises measuring a test pattern with a spectrum analyzer; and comparing said test pattern with a set of pre-stored templates.
Verfahren nach einem der Ansprüche 21 bis 23, wobei der Nachprüfschritt ein Messen eines Testmusters mit einer Spektrumanalyseeinrichtung und ein Vergleichen des Testmusters mit einem Satz vorgespeicherter Schablonen umfasst.
The semiconductor device of claim 1 or 2, further comprising a test pattern generator (614,815,1117) for generating a test pattern and inputting said test pattern together with said write address to said storage device (621,821,1121).
Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, die ferner einen Testmustergenerator (614,815, 1117) umfasst, zum Generieren eines Testmusters und Eingeben des Testmusters zusammen mit der Schreibadresse in die Speichervorrichtung (621,821, 1121).
A method according to claim 1, wherein reading said test pattern (301) is performed, after writing said test pattern, after one rotation of said magnetooptical disk (1) by using a same light beam.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Lesen des Testmusters (301) eine Umdrehung der magneto-optischen Platte (1) nach dem Schreiben des Testmusters unter Verwendung des gleichen Laserlichts erfolgt.
An inspection method according to any one of the preceding claims wherein said step of deriving information comprises reconstructing said first and second reference patterns using said first and second reflection spectra and using the reconstructed reference patterns to reconstruct said test pattern.
Untersuchungsverfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Schritt des Ableitens von Information das Rekonstruieren des ersten und des zweiten Referenzmusters unter Verwendung des ersten und des zweiten Reflektionsspektrums sowie die Verwendung des rekonstruierten Referenzmusters umfasst, um das Testmuster zu rekonstruieren.
The multi-mode counter network as recited in claim 3 wherein said test pattern is serially communicated through said network at a rate independent of said predetermined counter cycle rate.
Das Mehrmodus-Zählernetz nach Anspruch 3, worin das Testmuster seriell durch das Netz bei einer Rate, welche unabhängig der vorherbestimmten Zählerzyklusrate ist, mitgeteilt wird.
The optical disk according to claim 1, wherein said data area is defined between a lead-in area in an inner track area and a lead-out area in an outer track area, and said test pattern area is provided in said lead-in area.
Optische Platte nach Anspruch 1, wobei der Datenbereich zwischen einem Einlaufbereich (lead-in area) in einem inneren Spurbereich und einem Auslaufbereich (lead-out area) in einem äußeren Spurbereich festgelegt und der Prüfmusterbereich in dem Einlaufbereich vorgesehen ist.
A print control apparatus in accordance with claim 1, said print control apparatus further comprising: a printing condition input module that inputs a printing condition, wherein said test pattern generation module (88) generates different test pattern data according to the input printing condition.
Drucksteuervorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Drucksteuervorrichtung außerdem aufweist: ein Druckbedingungseingabemodul, das eine Druckbedingung eingibt, wobei das Testmustererzeugungsmodul (88) unterschiedliche Testmusterdaten entsprechend der eingegebenen Druckbedingung erzeugt.
An image forming apparatus as claimed in claim 17, wherein said test pattern forming section (1600) is arranged above a supplying portion for supplying said printing medium (1) to said conveying means (100).
Bilderzeugungsgerät nach Anspruch 17, bei dem der Testmusterausbildungsabschnitt (1600) über einem Zuführabschnitt zum Zurühren des Druckmediums (1) zu der Fördereinrichtung (100) angeordnet ist.
Apparatus according to any one of claims 9 to 12, wherein said reading means is adapted to read original documents as well as the test patterns formed by said test pattern formation means.
Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 9 bis 12, wobei die Leseeinrichtung angepaßt ist, Vorlagendokumente, als auch die durch die Testmuster-Erzeugungseinrichtung erzeugten Testmuster zu lesen.
A method according to claim 1 wherein parameters 'a' equals '1-c' and c represents the steady state value of said function F. A method according to claim 2 wherein said test pattern is a step wise pattern.
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass 'a' gleich '1-c' ist und c den Beharrungswert der Funktion F ist. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Testmuster ein Stufenmuster ist.
A method as claim 5, wherein said test pattern is measured by a sensor (15) mounted on the carriage (17) of the printer (10).
Ein Verfahren gemäß Anspruch 5, bei dem das Testmuster durch einen Sensor (15) gemessen wird, der an dem Wagen (17) des Druckers (10) befestigt ist.
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