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said test pattern
Vertaling van "said test pattern" in Duits
des Testmusters
das Testmuster
dem der Testmusterausbildungsabschnitt
die Testmuster-Erzeugungsschaltung
The system as recited in claim 9, wherein said central logic unit coordinates generation of said test pattern.
System nach Anspruch 9, wobei die zentrale Logikeinheit die Erzeugung des Testmusters koordiniert.
A method according to claim 1, wherein writing said test pattern (301) is performed in units of sector.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Schreiben des Testmusters (301) in Sektoreinheiten erfolgt.
An inspection method according to any one of the preceding claims wherein said step of deriving information comprises reconstructing said first and second reference patterns using said first and second reflection spectra and using the reconstructed reference patterns to reconstruct said test pattern.
Untersuchungsverfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Schritt des Ableitens von Information das Rekonstruieren des ersten und des zweiten Referenzmusters unter Verwendung des ersten und des zweiten Reflektionsspektrums sowie die Verwendung des rekonstruierten Referenzmusters umfasst, um das Testmuster zu rekonstruieren.
The multi-mode counter network as recited in claim 3 wherein said test pattern is serially communicated through said network at a rate independent of said predetermined counter cycle rate.
Das Mehrmodus-Zählernetz nach Anspruch 3, worin das Testmuster seriell durch das Netz bei einer Rate, welche unabhängig der vorherbestimmten Zählerzyklusrate ist, mitgeteilt wird.
A method as claimed in any of claims 21 to 23 wherein the ascertaining step comprises measuring a test pattern with a spectrum analyzer; and comparing said test pattern with a set of pre-stored templates.
Verfahren nach einem der Ansprüche 21 bis 23, wobei der Nachprüfschritt ein Messen eines Testmusters mit einer Spektrumanalyseeinrichtung und ein Vergleichen des Testmusters mit einem Satz vorgespeicherter Schablonen umfasst.
A method according to claim 1 wherein parameters 'a' equals '1-c' and c represents the steady state value of said function F. A method according to claim 2 wherein said test pattern is a step wise pattern.
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass 'a' gleich '1-c' ist und c den Beharrungswert der Funktion F ist. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Testmuster ein Stufenmuster ist.
The semiconductor device of claim 1 or 2, further comprising a test pattern generator (614,815,1117) for generating a test pattern and inputting said test pattern together with said write address to said storage device (621,821,1121).
Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, die ferner einen Testmustergenerator (614,815, 1117) umfasst, zum Generieren eines Testmusters und Eingeben des Testmusters zusammen mit der Schreibadresse in die Speichervorrichtung (621,821, 1121).
A display system according to any preceding claim, wherein said means operable during a calibration mode for generating a test pattern includes a test pattern generator (14) including a memory (22) having stored therein data representing said test pattern.
Anzeigesystem nach einem vorhergehenden Anspruch, wobei das Mittel, das während eines Kalibrierungsmodus arbeitet, um ein Testmuster zu erzeugen, einen Testmustergenerator (14) umfaßt, der einen Speicher (22) mit darin abgespeicherten das Testmuster repräsentierenden Daten aufweist.
A method as claimed in Claim 6, characterised in that said test pattern includes a first plurality of areas of a first reflectivity alternated with a second plurality of areas of a second reflectivity, and said first plurality of areas are of a variable width.
Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Testmuster eine erste Anzahl von Flächen eines ersten Reflexionsvermögens aufweist, das mit einer zweiten Anzahl von Flächen eines zweiten Reflexionsvermögens abwechselt, wobei die erste Anzahl von Flächen eine variable Breite aufweist.
A recording apparatus according to claim 11, wherein said test pattern (301) is generated within said control means (43) by dividing a logical-AND of a signal representative of said pre-pits (110,111, 112) and said predetermined clocks (27).
Aufzeichnungsgerät nach Anspruch 11, wobei das Testmuster (301) innerhalb der Steuereinrichtung (43) durch Teilen einer logischen UND-Verknüpfung eines die Pre-Pits (110,111, 112) wiedergebenden Signals und der vorgegebenen Takte (27) erzeugt wird.
A method according to claim 1, wherein reading said test pattern (301) is performed, after writing said test pattern, after one rotation of said magnetooptical disk (1) by using a same light beam.
Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Lesen des Testmusters (301) eine Umdrehung der magneto-optischen Platte (1) nach dem Schreiben des Testmusters unter Verwendung des gleichen Laserlichts erfolgt.
Apparatus according to any one of claims 9 to 12, wherein said reading means is adapted to read original documents as well as the test patterns formed by said test pattern formation means.
Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 9 bis 12, wobei die Leseeinrichtung angepaßt ist, Vorlagendokumente, als auch die durch die Testmuster-Erzeugungseinrichtung erzeugten Testmuster zu lesen.
An image forming apparatus as claimed in claim 17, wherein said test pattern forming section (1600) is arranged above a supplying portion for supplying said printing medium (1) to said conveying means (100).
Bilderzeugungsgerät nach Anspruch 17, bei dem der Testmusterausbildungsabschnitt (1600) über einem Zuführabschnitt zum Zurühren des Druckmediums (1) zu der Fördereinrichtung (100) angeordnet ist.
Synoniemen voor said test pattern in het Engels
Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
Suggesties
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