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Adjust the vertical alignment to make the test pattern look correct.
Passen Sie die vertikale Ausrichtung an, um das Testmuster korrekt aussehen zu lassen.
The method of claim 2, wherein the test pattern is a static bit pattern.
Verfahren nach Anspruch 2, bei dem das Testmuster ein statisches Bit-Muster ist.
I watched the test pattern carefully to set my television's brightness correctly.
Ich habe das Testbild sorgfältig beobachtet, um die Helligkeit meines Fernsehers korrekt einzustellen.
Adjust the contrast while observing the test pattern on the screen.
Stellen Sie den Kontrast ein, während Sie das Testbild auf dem Bildschirm beobachten.
This process may not be overridden by the user, who has no capability to cause the generation of the test pattern.
Dieser Prozess kann nicht vom Benutzer außer Kraft gesetzt werden, der auch keine Möglichkeit hat, die Erzeugung des Prüfmusters zu bewirken.
A method according to any one of claims 6 to 9, further comprising the steps of: developing the test pattern formed on said photosensitive medium; and transferring the developed test pattern to a sheet.
Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 9, mit Schritten zum Entwickeln des Prüfmusters, das auf dem lichtempfindlichen Träger erzeugt ist, und zum Übertragen des entwickelten Prüfmusters auf ein Blatt.
Device according to one or more of the preceding claims, characterized in that it contains a character generator, the output signal of which is used for inserting a line of writing into the test pattern.
Einrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sie einen Zeichengenerator enthält, dessen Ausgangssignal zur Einblendung eines Schriftzuges in das Testbild verwendet wird.
The apparatus according to claim 8, wherein the test pattern is transmitted over a predetermined frequency.
Die Vorrichtung gemäß Anspruch 8, bei der das Testmuster über eine vorbestimmte Frequenz gesendet wird.
A semiconductor device according to claim 1 or 2, wherein the test pattern is a checkerboard pattern.
Eine Halbleitereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, bei welcher das Testmuster ein Schachbrettmuster ist.
Projection television system as claimed in claim 1 or 2, characterized in that the test pattern comprises a checkerboard pattern.
Projektionsfernsehsystem nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß das Testbild ein Schachbrettmuster aufweist.
Apparatus (102) as claimed in claim 7, wherein the test pattern comprises alternating darker and lighter images.
Anordnung (102) nach Anspruch 7, wobei das Testbild abwechselnd dunklere und hellere Bilder aufweist.
An apparatus as claimed in any one of claims 1-10, characterised in that the test pattern has a duty of 50%.
Gerät nach Anspruch 1-10, gekennzeichnet dadurch, daß das Testmuster eine Auslastung von 50% hat.
Thus, the present invention has the advantage that the transmission paths for the test pattern in the semiconductor test apparatus are simpler than in the conventional apparatus to improve the throughput of the semiconductor tester by shortening the data transfer time.
So hat die vorliegende Erfindung den Vorteil, daß die Übertragungswege für das Testmuster bei der Halbleiter-Testvorrichtung einfacher sind als bei der herkömmlichen Vorrichtung, um den Durchsatz des Halbleitertesters durch Verkürzung der Datenübertragungszeit zu verbessern.
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