Provided is an external chuck flatness adjustor provided with a prober.
La présente invention concerne un ajusteur externe de planéité de mandrin pourvu d'un sondeur.
Various components of the illuminator may interface with a wafer prober to provide sufficiently uniform and stable illumination with fast- switching intensities, wavelengths, and/or other properties.
Divers composants de l'illuminateur peuvent s'interfacer avec un sondeur de tranche pour fournir un éclairage suffisamment uniforme et stable avec des intensités à commutation rapide, des longueurs d'onde et/ou d'autres propriétés.
Disclosed is a multichip prober for inspecting with high efficiency a chip which is to be inspected in an isolated state.
La présente invention concerne une sonde multipuce destinée à inspecter avec une efficacité élevée une puce qui doit être inspectée en état isolé.
a prober interface plate is formed as a single body of ceramic material
une plaque interface de sonde, formée d'un corps unique en matériau de céramique
Examples of peripherals include a handler and a prober.
Les périphériques peuvent être un manipulateur ou un testeur par exemple.
The present invention relates to an apparatus for measuring an external pressure applied to the Z axis of the chuck plate of a wafer prober.
La présente invente porte sur un appareil pour mesurer une pression externe appliquée à l'axe Z de la plaque de mandrin d'un testeur de tranches.
may be able to operate the inside of the prober
puisse pouvoir mettre en service l'intérieur de la sonde
A voltage compensation assembly adapted for apparatus having a prober for contacting th electronic elements on a substrate is described.
L'invention concerne un ensemble de compensation de la tension conçu pour un appareil muni d'une sonde destinée à entrer en contact avec les éléments électroniques sur un support.
each semiconductor testing apparatus is equipped, on one side portion of the casing of a prober
chaque appareil de test de semiconducteur est équipé, d'un côté du boîtier, d'une sonde
The method is performed in particular using a prober system known from semiconductor technology, which system allows a plurality of samples to be measured quickly and at low-cost under constant measuring conditions.
Le procédé est en particulier mis en œuvre en utilisant un système sondeur connu de la technologie des semi-conducteurs et qui permet la mesure rapide et économique d'une pluralité d'échantillons dans des conditions de mesure constantes.
Using two simple examples of networks, we show how a prober can measure the network by varying the number of probing flows and measure the associated bandwidth allocated to each probing flow.
À partir de deux exemples simples, nous montrons comment un sondeur peut mesurer le réseau en faisant varier le nombre de flots de sondes, et en mesurant le débit associé aux flots dans chaque cas.
Such illumination provided by various embodiments of the illuminator may permit the wafer prober to perform high- throughput testing, calibration, and/or inspection of devices that may be fabricated and/or packaged on a wafer.
Cet éclairage fourni par divers modes de réalisation de l'illuminateur peut permettre au sondeur de tranche d'effectuer un test, un étalonnage et/ou une inspection à haut débit de dispositifs pouvant être fabriqués et/ou encapsulés sur une tranche.
the present invention provides an apparatus and method for correcting parallelism between a probe card and a chuck plate of a wafer prober
la présente invention porte sur un appareil et un procédé pour corriger le parallélisme entre une carte sonde et une plaque de serrage d'un testeur de tranche