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test pattern data
Vertaling van "test pattern data" in Japans
テストパターンデータ
試験パターンデータ
A test circuit not requiring customization for every substrate by using simple test pattern data can be created, and preparation process of test is reduced sharply.
単純な試験パターンデータを使用することができ、基板毎にカスタマイズする必要がない試験回路の生成を可能とし、試験の準備工程を大幅に短縮する。
Here, when the imaging data does not contain the whole image normally, the abnormal area is set as an area to be complemented (S6, S7), and the area to be complemented is complemented by an area other than the area to be complemented (S9, S14), thereby calculating the correction data on the whole image associated with the test pattern data.
このとき、撮影データが、画像の全部を正常に含んでいない場合には、その非正常領域を補完対象領域として設定し（S6，S7）、該補完対象領域以外の領域からこの補完対象領域の補完を行うことにより（S9，S14）、上記テストパターンデータに係る画像の全部に関する補正データを算出する。
A variable delay circuit (30) delays test pattern data DPAT by a delay time t based on the delay setting data DDS with respect to a predetermined unit delay amount tu.
可変遅延回路３０は、テストパターンデータＤＰＡＴを、所定の単位遅延量tｕを基準として、遅延設定データＤＤＳに応じた遅延時間t、遅延させる。
Second rate data DRATE2 specifies a test pattern data cycle with a higher accuracy than the unit delay amount tu.
第２レートデータＤＲＡＴＥ２は、テストパターンデータの周期を、単位遅延量tｕよりも高い精度で指定する。
Test equipment comprising a pattern generator generating a plurality of addresses indicating the plurality of memory areas of a memory being tested, and a plurality of pieces of test pattern data being written in the plurality of memory areas, a section for storing information indicative of failed memory areas among the plurality of memory areas, a section generating a signal for inhibiting writing of test pattern data into the memory being tested when a predetermined address generated from the pattern generator indicates a failed memory area, and a section generating a forced write enable signal for releasing inhibition of writing the test pattern data into the memory being tested upon ending generation of the test pattern data being fed to a memory area indicated by the predetermined address.
本発明の試験装置は、被試験メモリが有する複数の記憶領域を示す複数のアドレス、及び複数の記憶領域に書き込む複数の試験パターンデータを発生するパターン発生器と、複数の記憶領域のうちの不良の記憶領域を示す情報を格納する不良記憶領域格納部と、パターン発生器が発生した所定のアドレスが不良の記憶領域を示す場合に、被試験メモリへの試験パターンデータの書き込みを禁止する書込禁止信号発生部と、所定のアドレスが示す記憶領域に供給すべき試験パターンデータの発生が終了すると、被試験メモリへの試験パターンデータの書き込みの禁止を解除する書込強制有効信号発生部とを備える。
Synoniemen voor test pattern data in het Engels
Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
Resultaten: 5. Exact: 5. Verstreken tijd: 144 ms.
