Gesproken tekst vertalen, offlinefuncties, synoniemen, vervoegingen, educatieve spelletjes
Publiciteit
Sluit u aan bij Reverso, het is gratis en gemakkelijk!
test pattern generating
Vertaling van "test pattern generating" in Japans
テストパターン生成
The test pattern generating circuit is configured by employing nonvolatile logic, therefore, the test can be performed without preparing a test pattern.
テストパターン生成回路は、不揮発性の論理を用いて構成されているため、テストパターンを予め用意することなくテストを実施できる。
A plurality of test patterns generated by a test pattern generating circuit are outputted from a first memory chip to test a different type second memory chip packaged in a same package as the first memory chip.
テストパターン生成回路により生成される複数のテストパターンは、第１メモリチップと同じパッケージ内に実装される異種の第２メモリチップをテストするために、第１メモリチップから出力される。
A test pattern generating device generates a test pattern to a semiconductor circuit provided with first and second common circuits each having a scan chain for giving the test pattern to confirm the operation of the circuit from the outside of the circuit and a non-common circuit other than the first and second common circuits.
テストパターン生成装置は、回路の外部からテストパターンを与えて回路の動作を確認するスキャンチェーンをそれぞれ有する第１及び第２の共通回路と、第１及び第２の共通回路以外の非共通回路とを備えた半導体回路に対するテストパターンを生成する。
TEST PATTERN GENERATING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM
テストパターン生成方法、装置及びプログラム
The test simulator is provided with a test pattern holding means for holding an existing test pattern to be given to a semiconductor device; a device output holding means for previously holding an output to be obtained from the semiconductor device when the existing test pattern is given; a test pattern generating means for generating a new test pattern to be given to the semiconductor device; a test pattern judging means for judging whether the new test pattern is the same as the existing test pattern; and a simulation skipping means for skipping at least a part of a simulation test by reading out the output from the device output holding means without giving the new test pattern to the semiconductor device when the test patterns are same and by permitting the read out output to be an output for the new test pattern.
半導体デバイスの試験をシミュレートする試験シミュレータであって、半導体デバイスに与えるべき既存の試験パターンを保持する試験パターン保持手段と、既存の試験パターンを与えた場合に半導体デバイスから得られるべき出力を予め保持するデバイス出力保持手段と、半導体デバイスに与えるべき新たな試験パターンを生成する試験パターン生成手段と、新たな試験パターンが既存の試験パターンと同一であるか否かを判断する試験パターン判断手段と、試験パターンが同一である場合に、半導体デバイスに新たな試験パターンを与えることなく、デバイス出力保持手段から出力を読み出して、新たな試験パターンに対する出力とすることにより、シミュレーション試験の少なくとも一部をスキップするシミュレーションスキップ手段とを備える試験シミュレータを提供する。
Synoniemen voor test pattern generating in het Engels
Woord & uitdrukking van de dag
Afbeelding van de dag
Suggesties
Resultaten: 5. Exact: 5. Verstreken tijd: 14 ms.
