Auto test spécifique à certains modems
MODULE MEMOIRE ET COMPOSANT MEMOIRE A AUTO TEST INTEGRE
MEMORY MODULE AND MEMORY COMPONENT BUILT-IN SELF TEST
En outre, ces types de tests ne peuvent pas être réalisés directement sur l'imageur afin d'incorporer des fonctions d'auto test.
Moreover, these kinds of tests can not be realised directly on the imager in order to incorporate auto test functions.
La qualité de l'auto test est évaluée en fonction de métriques de test qui tiennent en compte des déviations du process et la présence de fautes catastrophiques et paramétriques.
The BIST quality is evaluated by the test metrics that takes into account process variations and the presence of catastrophic and single parametric faults.
La technique d'auto test est validée pour deux imageurs, l'un utilisant des pixels à intégration et l'autre des pixels logarithmiques.
The BIST is evaluated for two kinds of imagers, the first one uses integrations pixels and the second one logarithmic pixels.
après que le système d'exploitation principal a été lancé et lors de la réception d'un signal de fermeture du système d'exploitation, la commande du système électronique est transférée à un autre système d'exploitation sans auto test de démarrage.
after the principal operating system has been launched and upon receiving an operating system shut down indication signal, control of the electronic device is transferred to an alternate operating system without performing a power on self test.
Dans le cadre de cette thèse, on envisage l'étude de techniques d'auto test statique pour ce type de convertisseurs.
In this thesis, static linearity BIST techniques will be investigated for pipeline ADCs.
Dans cette thèse, nous étudions et évaluons une technique d'auto test (BIST) pour les capteurs de vision CMOS.
In this work, we study and evaluate a Built-In-Self-Test (BIST) technique for the CMOS vision sensors.
L'auto test se reproduit plusieurs fois sur la CPU du C80 Evo.
The Autotest reproduces several times on the CPU of the C80 Evo.
La technique d'auto test a été validée sur un LNA en technologie BiCMOS 0.25m, utilisant différents modèles statistiques.
The BIST technique has been validated for a ST Microelectronics 0.25 ¸tm BiCMOS LNA using different statistical models.
Dans cette thèse, nous concevons et évaluons une technique d'auto test pour un amplificateur faible bruit (LNA, Low Noise Amplifier) RF.
In this thesis, the design and the evaluation of a BIST technique for RF Low Noise Amplifiers (LNAs) is considered.
Afin de réduire le coût du test, des techniques de DfT (Design for Test) et d'auto test (BIST, Built-in-Self-Test) sont envisagées bien qu'actuellement inutilisées par l'industrie du semi-conducteur.
In order to reduce this cost, DfT (Design-for-Test) and BIST (Built-in Self-Test) techniques are currently under research.