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test point
Définition
Traduction de "test point" en coréen
Définition
테스트 포인트
테스트 지점
테스트 포인트가
검사점
테스트 점이
테스트 점
테스트 점의
테스트 점은
테스트 점에서
Built-in capacitive test point to determine the circuit status or installa fault indicator
회로 상태를 확인하거나 오류 표시기를 설치하기 위한 내장 용량성 테스트 포인트
In order to ensure the testability of electrical performance, the test point design mainly has the following requirements.
전기적 성능의 테스트 가능성을 보장하기 위해 테스트 포인트 디자인에는 주로 다음 요구 사항이 있습니다.
There are many ideas that adjust the generator after the test point.
테스트 지점 이후에 발전기를 조정하는 많은 아이디어가 있습니다.
Tx is the test point (for factory testing)
Tx는 테스트 지점 (공장 테스트의 경우)입니다.
If there is a test point, solder paste must be printed to prevent oxidation, otherwise it will not be in good contact with the probe.
테스트 포인트가 있는 경우 산화를 방지하기 위해 솔더 페이스트를 인쇄해야 합니다. 그렇지 않으면 프로브와 잘 접촉되지 않습니다.
The test head and the objective lens are switched between each other during the test, and the test point is automatically positioned accurately.
테스트 중에 테스트 헤드와 대물 렌즈가 서로 전환되고 테스트 포인트가 자동으로 정확하게 배치됩니다.
The probe test supports the via and the test point.
프로브 테스트는 비아와 테스트 포인트를 지원합니다.
After the detector test is completed, if the tested branch has a ring network or insulation fault, the direction information of the fault point relative to the test point is determined.
검출기 테스트가 완료된 후 테스트 분기에 링 네트워크 또는 절연 결함이 있는 경우 테스트 지점을 기준으로 한 결함 지점의 방향 정보가 결정됩니다.
As for the quality of the signal, it depends on how fast the test point is added and how fast the signal is.
신호의 품질은 테스트 포인트가 얼마나 빨리 추가되고 신호가 얼마나 빠르 느냐에 달려 있습니다.
The difference is the cable wave speed, which gives the distance between the fault point and the test point.
차이점은 케이블 파동 속도로, 결함 지점과 테스트 지점 사이의 거리를 제공합니다.
The position of the double cursor can be arbitrarily changed, and the direct distance or relative distance between the fault point and the test point is directly displayed.
이중 커서의 위치를 임의로 바뀔 수 있다, 그리고 직접 거리 또는 오류 지점 및 테스트 포인트 사이의 상대 거리는 직접 표시 됩니다.
The initial comparison test point can start from the port of the circuit board; then the comparison test is performed on the surface and inside, especially for the capacitor.
초기 비교 테스트 포인트는 회로 보드의 포트에서 시작할 수 있습니다. 그런 다음 표면과 내부, 특히 커패시터에 대해 비교 테스트를 수행합니다.
In principle, the smaller the test point, the better (of course, it must meet the requirements of the test tool) the shorter the branch, the better.
원칙적으로 테스트 포인트는 작을수록 좋습니다(물론 테스트 도구의 요구 사항을 충족해야 함). 분기는 짧을수록 좋습니다.
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