The present invention relates to a semiconductor device test system and a semiconductor device semiconductor test handler, etc.
L'invention concerne un système de test de dispositif à semi-conducteur, un gestionnaire de test, etc.
The test handler includes first to third transfers for transferring a user tray, and first to third horizontal movement units suitable for respectively moving the first to third transfers in the horizontal direction.
Le gestionnaire de test comprend trois transferts d'un plateau utilisateur et trois unités de déplacement horizontal adaptées au déplacement respectif des trois transferts dans le sens horizontal.
A test tray for a test handler is disclosed that is loaded with semiconductor devices and then carries them along a predetermined circulation route.
La présente invention concerne un plateau pour appareil de test sur lequel sont chargés des dispositifs semi-conducteurs qui sont ensuite transportés selon un trajet prédéterminé.
TEST TRAY FOR TEST HANDLER
A test handler is disclosed.
test handler having size-changeable test site
gestionnaire de test à surface de test de taille variable
A dedicated I/O interface enables control of a test handler in systems with fully automated test equipment.
Une interface E/S dédiée permet de contrôler un gestionnaire de test dans les systèmes avec un équipement de test entièrement automatisé.
The WSGIRequest instance generated by the test handler that generated the response.
L'instance WSGIRequest générée par le gestionnaire de test qui a produit la réponse.
the test handler thread may be assigned a time critical priority.
The test handler base cartridge is comprised of a thermally conductive material and includes a heating element and a temperature sensor embedded therein.
La cartouche de socle du testeur, qui est faite d'un matériau thermiquement conducteur renfermant une thermosonde, est pourvue d'un élément chauffant.
opener and buffer table for test handler
a test handler for semiconductor device, which includes
The shuttle plate is adapted to be fit on a test handler, such as by shuttle plate clips.