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diffractogramme de rayons x
an x-ray diffractogram measured on said aluminium effect pigments in essentially plane-parallel alignment showing main peaks which are not-or-reflections
un diffractogramme de rayons x mesuré sur les pigments à effet d'aluminium dans un alignement sensiblement parallèle au plan montrant des pics principaux qui ne sont pas des réflexions ou
the invention relates to DMC catalysts consisting of at least 10 wt. %, (in relation to the weight of the DMC catalyst), of a crystalline multi-metal cyanide compound, whose x-ray diffractogram exhibits intense reflections at least at the d-values 11.4 å ± 0.5 å
l'invention concerne des catalyseurs DMC qui contiennent au moins 10 % en poids, par rapport au poids des catalyseurs DMC, d'un composé de cyanure polymétallique cristallin dont un diffractogramme de rayons x présente d'intenses reflets au moins aux valeurs d 11,4 à ± 0,5 à
In the present invention it is preferable for the crystalline microporous catalyst to have pores of at least 0.52 nm and a crystalline structure having an x-ray diffractogram corresponding to a beta zeolite.
Selon la présente invention, on préfère que le catalyseur microporeux et cristallin présente des pores d'au moins 0,52 nm et une structure cristalline à diffractogramme de rayons X correspondant à une zéolite bêta.
The inventive material has a typical X-ray diffractogram.
Ladite matière présente un diffractogramme de rayons X caractéristique.
X-ray diffractogram and site of interest.
Diffractogramme de rayons X et lieu d'intérêt.
There is described a new disordered nanoporous crystalline form of syndiotactic polystyrene, characterized by a specific X-ray diffractogram, the process for its preparation and various articles comprising this form of s-PS.
L'invention concerne une nouvelle forme cristalline nanoporeuse désordonnée de polystyrène syndiotactique, caractérisée par un diffractogramme de rayons X spécifique, le procédé pour la préparer et divers articles comprenant cette forme de s-PS.
According to the invention, the inventive complex has x-ray diffractogram reflexes at determined d-values and can be used as a catalyst.
Ce complexe dont le diagramme de diffraction des rayons X présente des reflets à des valeurs d déterminées, peut s'utiliser comme catalyseur.
a method of determining the concentrations of the constituents in a mixture of substances by way of an x-ray diffractogram of the mixture
un procédé permettant de déterminer les concentrations des constituants d'un mélange de substances à l'aide d'un diffractogramme des rayons x de ce mélange
and e is a value ranging from 0 to 20, wherein said oxide is embodied in the form of a crystalline structure whose powder x-ray diffractogram is characterised in that the diffraction reflex thereof for selected lattice differences is at least equal to 5 for d = 7.13
et e désigne une valeur de 0 à 20, ledit oxyde se présentant en une structure cristalline, dont le diffractogramme aux rayons x de la poudre est caractérisé par une réflexion par diffraction, d'au moins 5 pour d = 7,13
In the calcined form, the X-ray diffractogram of said catalyst comprises five intense diffraction lines, typically the most intense, corresponding to diffraction angles 2u of 22.1+0.4; 27.1+0.4; 28.1+0.4; 36+0.4 y 45.1+0.4.
Le catalyseur présente, sous forme calcinée, un diffractogramme de rayon X présentant cinq lignes de diffraction intenses, normalement les plus intenses, correspondant aux angles de 22,1? 0,4; 27,1? 0,4; 28,1? 0,4; 36,0? 0,4 et 45,1? 0,4.
The X-ray diffractogram of pure decagonal Al7(Mn1-xFex)2, x = 0 and 0.3, has been indexed with a basis-vector set that is closely related to the icosahedral set.
Le diagramme des rayons-X des alliages décagonaux purs Al7(Mn1-xFex)2, avec x = 0 et 0,3, ont été indexés en utilisant un ensemble de vecteurs de base qui est étroitement lié à l'ensemble icosaédrique.
the particules are useful as phosphors, for example for use in displays. figure 20 is an x-ray diffractogram representative of a sample of the invention.
les particules sont utiles comme phosphores, par exemple, dans des afficheurs.
the invention relates to a tectosilicate having an x-ray diffraction pattern in which at least the following reflexes occur: (table i), 100 percent referring to the intensity of the highest peak in the x-ray diffractogram.
l'invention concerne un tectosilicate à modèle de diffraction aux rayons x, dans lequel se présentent au moins les réflexions figurant dans le tableau, où l'indication 100 % se rapporte à l'intensité du pic maximum dans le diffractogrammes aux rayons x.
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